张云霞、郝俊杰、戚君婷、焦娟、陈存广(北京科技大学材料科学与工程学院)的研究《Nb2O5掺杂对BaTiO3基介电陶瓷瓷料性能的影响》发表于《powder metallurgy industry》(粉末冶金工业)2011年第21卷第2期。该研究聚焦电子陶瓷领域,针对BaTiO3基陶瓷在高温下介电性能不稳定的问题,通过Nb2O5掺杂改性探索其微观结构与介电性能的关联机制。
学术背景
BaTiO3(钛酸钡)作为核心介电材料,虽具有高室温介电常数(εr),但其介电性能在超过居里温度(130℃)后急剧恶化。传统稀土掺杂(如La3+、Yb3+)虽能展宽居里峰,但难以兼顾温度稳定性与低介质损耗(tanδ)。本研究创新性地引入高价位Nb5+掺杂,通过固溶体形成(BaNb0.5Ti0.5O3)调控晶格缺陷,旨在实现X8R特性(-55~180℃容温变化率±15%以内)。
研究流程
样品制备
- 固相合成法:按表2配比称量BaTiO3、Nb2O5等原料,球磨24小时(球:料:酒精=2:1:1),造粒后压制成Φ10mm×1~2mm圆片。
- 烧结工艺:550℃排胶后,分三组(1220℃、1240℃、1260℃)烧结2小时,采用SSJ-14A烧结炉。
性能表征
- 介电性能:使用XC2810ALCR阻抗分析仪(1kHz)测量-55~180℃区间电容(C)和tanδ,按公式εr=144Ch/d²计算介电常数。
- 微观结构:LEO-1450扫描电镜(SEM)观察晶粒形貌;DMAX-RC X射线衍射仪(XRD,Cu靶λ=0.151406nm)分析相组成。
数据分析
- 介电常数温度系数(αε)通过公式αε=(εmax-εref)/[εref(Tmax-Tref)]计算,以20℃为参考点。
主要结果
介电性能优化
- 最佳配比:2wt% Nb2O5掺杂样品在1260℃烧结时性能最优(ε25℃=1395,tanδ=0.013),αε低温-4.1%、高温-6.76%,满足X8R标准(图3b)。
- 机制解析:Nb5+(0.64nm)取代B位Ti4+(0.605nm)形成固溶体,抑制Ti4+还原为Ti3+,降低氧空位浓度(表3)。过量掺杂(>2%)导致晶格畸变,εr下降(图5)。
微观结构演变
- SEM分析:Nb2O5促进晶粒长大(图6),1220℃烧结时晶粒不均(图7a-b),1260℃时致密化显著(图7e-f),孔隙率降低。
- XRD验证:所有样品主相为BaTiO3,次相BaNb0.5Ti0.5O3证实Nb5+固溶(图5)。
结论与价值
- 科学价值:阐明Nb5+掺杂通过B位取代调控氧空位与电子极化的机制,为高稳定性介电陶瓷设计提供新思路。
- 应用价值:2wt% Nb2O5掺杂工艺可直接应用于多层陶瓷电容器(MLCC)生产,提升高温工作可靠性。
研究亮点
- 创新方法:首次系统研究Nb2O5对BaTiO3烧结温度窗口(1220~1260℃)的协同优化效应。
- 关键发现:Nb5+掺杂量存在阈值(2wt%),过量将破坏钙钛矿结构稳定性(图6h)。
其他发现
- 稀土协同效应:La3+/Yb3+少量掺杂(<1wt%)进一步抑制介电常数温度漂移(参考文献[7])。
- 工艺优化:1260℃烧结使介温曲线平缓化(图4a),证实高温烧结可减少晶界缺陷。
(注:全文数据均引自原文图表及实验数据,未添加外部参考文献。)