类型b:学术报告
本文档为Gian Carlo Montanari(意大利博洛尼亚大学电气工程系)于2011年4月在《IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation》发表的论文,题为《Bringing an Insulation to Failure: The Role of Space Charge》。该文基于2010年IEEE电气绝缘与介电现象会议(CEIDP)的Whitehead纪念讲座内容,系统探讨了空间电荷(space charge)在电绝缘材料老化与失效中的核心作用,并整合了近年来关于超快电荷脉冲(solitons)等新发现的理论与实验进展。
论文指出,空间电荷通过直接或间接方式加速绝缘老化:
- 直接机制:空间电荷积累导致局部电场畸变(electric field alteration),引发高能电子加速和热化(thermalization),从而触发快速降解(如电子雪崩)或慢速老化(如降低降解活化能)。实验数据表明,当内部电场放大至临界值时,绝缘材料可能在极短时间内击穿(如参考文献[17, 22, 23]中记录的快速击穿现象)。
- 间接机制:空间电荷调控局部放电(partial discharges, PD)的起始与重复频率,进而影响老化速率。例如,在直流(DC)电压下,空间电荷在绝缘-空穴界面(dielectric-void interface)的积累会调节电子注入速率,从而决定PD的重复率(见公式(7))。
通过脉冲电声法(Pulsed Electroacoustic, PEA)等高速测量技术,作者团队观察到一种新型空间电荷现象——超快电荷脉冲(ultra-fast charge pulses),其迁移率(mobility)高达10⁻¹⁰–10⁻⁹ m²V⁻¹s⁻¹,远高于传统“慢速”电荷包(slow packets)。实验证据(图20)显示,这些脉冲以固定电荷量(如XLPE中正脉冲约3×10⁻⁹ C)周期性穿越绝缘体,并通过重复积累形成异号电荷层(heterocharge)。其机制可能与聚合物链的分子弛豫(如XLPE的α和β弛豫)相关,需机械应力协同作用(公式(24)-(25))。
作者提出动态分子改性模型(Dynamic Molecular Modification, DMM),从热力学角度解释空间电荷如何通过储存机电能(electromechanical energy)降低降解反应的自由能垒(图14)。公式(11)-(15)表明,局部电场增强会加速键断裂(如C-H键),直至达到临界损伤体积(critical damage volume),触发快速失效。该模型成功拟合了聚对苯二甲酸乙二醇酯(PET)在不同温度下的直流寿命数据(图15)。
论文综述了PEA、激光调制等空间电荷测量技术的应用,指出其揭示了传统空间电荷限制电流理论(SCLC)的局限性(如非均匀电荷分布)。例如,图16-17显示聚乙烯的电流密度-电场(j-E)曲线在阈值场强(threshold field, Et)处发生弯曲,与空间电荷积累直接相关。
本文系统论证了空间电荷在绝缘失效中的核心角色,为未来高性能绝缘材料开发奠定了理论基础。