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浅层与深层陷阱释放电荷对介电响应及绝缘诊断的影响

期刊:IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical InsulationDOI:10.1109/TDEI.2024.3510227

这篇文档属于类型a,即报告了一项原创性研究。以下是对该研究的学术报告:


文档1:极化与去极化电流(PDC)测量中的浅陷阱与深陷阱电荷对绝缘诊断的影响

1. 研究团队与发表信息

该研究由Somesh Ganguly(印度理工学院丹巴德分校)、Arijit Baral(IEEE高级会员,印度理工学院丹巴德分校)和Sivaji Chakravorti(IEEE高级会员,贾达普大学)共同完成,并于2025年8月发表在IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation(第32卷第4期)。

2. 学术背景

研究领域

该研究属于高压电力设备绝缘诊断领域,具体涉及油纸绝缘系统的电荷动力学时间域介电响应(Time Domain Dielectric Response, TDDR)测量技术。

研究动机

电力变压器绝缘老化会导致其内部电荷载流子(charge carriers)浅陷阱(shallow traps)深陷阱(deep traps)捕获。在极化与去极化电流(PDC)测量中,这些被释放的电荷会显著影响电流响应曲线,导致**极化电流

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