纳米级瞬态热测量技术的突破:电子显微镜中的纳秒级纳米热成像研究
作者及发表信息
本研究由法国巴黎萨克雷大学CNRS固体物理实验室的Luiz H. G. Tizei团队主导,合作者包括Florian Castioni、Yves Auad等,以及日本国立材料科学研究所(NIMS)Kenji Watanabe、Takashi Taniguchi等国际学者。研究成果于2025年1月发表于《Nano Letters》(卷25,页1601-1608),标题为《Nanosecond Nanothermometry in an Electron Microscope》。
学术背景
随着纳米电子学、光子学和热电材料的发展,纳米尺度热传输管理成为关键科学问题。传统热测量技术(如热反射光谱、拉曼光谱)受限于光学衍射极限(空间分辨率约数百纳米),而扫描热显微镜(SThM)虽能实现数十纳米分辨率,却易受接触干扰。电子显微镜技术(如电子能量损失谱EELS)虽具备纳米级空间分辨率,但此前缺乏对瞬态非平衡热现象的纳秒级时间分辨能力。本研究旨在开发一种结合光子激发与电子探测的泵浦-探测(pump-probe)方法,实现纳米-纳秒双尺度温度动态成像,为纳米器件热管理提供新工具。
研究流程与方法
1. 技术原理设计
- 泵浦-探测系统:采用25纳秒脉宽的可见光激光(580-610 nm)作为泵浦源,在扫描透射电子显微镜(STEM)中同步触发局部加热;通过时间分辨单色化EELS(能量分辨率50 meV,时间分辨率1.5 ns)探测热响应。
- 关键创新:
- 事件驱动型探测器(Timepix3):记录电子到达时间与激光脉冲的延迟,实现非脉冲电子源的纳秒级时间分辨。
- 多模态热标记物:利用不同材料的特征信号(声子、等离激元、激子)反推温度变化,覆盖红外至软X射线能段。
实验对象与处理
数据分析与模型验证
主要结果
1. SiNx薄膜的绝对温度测量
- 激光脉冲结束时温度达680±40 K,冷却过程分两阶段:前数百纳秒快速降温,后微秒级缓慢弛豫(图2b)。声子增益/损耗峰比与PDB理论一致,验证了方法的定量准确性。
铝薄膜的时空热成像
WS2单层的激子响应
结论与价值
1. 科学意义
- 首次在STEM中实现纳米-纳秒双尺度热成像,突破了传统技术的时空分辨率限制。
- 通过多材料体系验证,证明方法可推广至半导体、金属、二维材料等广泛体系。
研究亮点
1. 方法创新:
- 首创光子-电子协同泵浦探测架构,时间分辨率(1.5 ns)与空间分辨率( nm)均达领域标杆。
- 开发基于Timepix3的事件驱动型EELS检测系统,无需脉冲电子源即可实现纳秒计时。
跨材料普适性:
理论-实验闭环:
其他重要发现
- 激光诱导近场电子显微(PINEM)效应:在WS2中观测到电子束-激光近场耦合现象,为后续超快光谱研究指明方向。
- 技术可扩展性:通过调节激光波长(现有系统支持)、提升探测器精度,未来可向皮秒级时间分辨率推进。
本研究为纳米材料热物性研究树立了新范式,相关技术已获欧盟“地平线2020”计划及法国国家科研署(ANR)资助支持。