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硅碳化物和硅器件在短功率脉冲下的过流能力研究

期刊:energiesDOI:10.3390/en17020462

本文档属于类型a,即报告了一项原创性研究的科学论文。以下是对该研究的学术报告:


作者及发表信息

本研究由Shubhangi Bhadoria(第一作者,瑞典皇家理工学院KTH与西安交通大学联合培养)、Frans Dijkhuizen(Hitachi Energy Research)、Xu Zhang(西安交通大学与英国华威大学联合培养)、Li Ran(华威大学)和Hans-Peter Nee(瑞典皇家理工学院KTH)共同完成,发表于期刊Energies 2024年第17卷,文章标题为《Over-Current Capability of Silicon Carbide and Silicon Devices for Short Power Pulses with Copper and Phase Change Materials Below the Chip》。


学术背景

研究领域:电力电子器件可靠性,聚焦于碳化硅(SiC)和硅(Si)半导体器件在过电流(Over-Current, OC)工况下的热管理。
研究动机:随着可再生能源占比提升,电力系统过电流事件频发,可能导致半导体器件因结温(Junction Temperature)超限而热失控。传统保护装置(如熔断器)的响应时间(约200毫秒)可能不足以保护器件,因此需探索新型热缓冲方案。
科学问题:如何通过改进功率模块结构(如添加吸热材料)提升Si和SiC器件的短时过电流能力?
研究目标:对比铜块(Copper Block)与铜基相变材料(Phase Change Material, PCM)在吸收瞬态热量、延缓结温上升方面的性能差异,并评估其对Si(最高结温175°C)和SiC(最高结温250°C)器件的适用性。


研究流程与方法

1. 功率模块结构设计

  • 基础结构:基于Semikron SKM50GB12T4模块,包含芯片、焊料、陶瓷基板(Alumina)、基板、散热器等。
  • 改进结构
    • 方案1:芯片下方直接焊接铜块(19×19×5 mm),利用铜的高导热性快速扩散热量。
    • 方案2:铜块内嵌入圆柱形PCM(Si用LM108,SiC用锂),通过相变潜热吸收瞬态热量(PCM体积占比38%)。

2. 仿真建模与参数设置

  • 工具:COMSOL Multiphysics有限元分析,采用“固体传热”物理场,PCM相变模型通过焓法(公式1-2)描述。
  • 关键参数
    • 器件尺寸:Si IGBT(9.1×9.1×0.35 mm)、SiC MOSFET(6.3×6.3×0.35 mm)。
    • 材料属性:铜(导热系数387.6 W/(m·K))、LM108(熔点108°C,潜热45 kJ/kg)、锂(熔点180°C,潜热455 kJ/kg)。
    • 工况:过电流倍数(2×、3×、4×额定电流)、持续时间(毫秒至秒级),初始稳态温度设为100°C。

3. 损耗计算与热源建模

  • Si IGBT:基于Infineon应用笔记,计算导通损耗(公式3)和开关损耗(公式4),考虑调制指数(m=0.9)和功率因数(cosφ=0.9)。
  • SiC MOSFET:考虑反向导通特性,忽略体二极管损耗,采用平均导通电阻(Rdson)估算损耗(公式7-8)。

4. 应用场景仿真

  • 逆变器应用:半桥结构,对比Si IGBT与SiC MOSFET在相同电流下的热响应。
  • DC/DC变换器:单器件结构,分析瞬态过电流能力。

主要结果

1. Si与SiC器件的过电流能力差异

  • Si IGBT:标准模块在4倍过电流(120 A)下稳态结温为170°C(未超限),但铜块结构可降低温度波动(如3倍OC时结温降低8°C)。
  • SiC MOSFET:铜块将2倍OC(316.75 A)的耐受时间从4.7秒延长至8.6秒(表8),因SiC允许更高结温(250°C)。

2. 铜块与铜-PCM的性能对比

  • 短时脉冲(秒):铜块表现更优,因其导热速率快于PCM(如3倍OC时铜块耐受900 ms,PCM仅700 ms)。
  • 长时脉冲(>5秒):PCM的潜热吸收优势显现(如Si IGBT在2倍OC下PCM完全熔化,降低稳态温度)。

3. 热流密度与PCM熔化关系

  • 高热流密度(如4倍OC)下,PCM未充分熔化即达结温限值(图8d),导致铜块更有效。
  • 低热流密度(如2倍OC)下,PCM熔化比例达70%(图8b),延缓温升。

结论与价值

  1. 科学价值:揭示了铜块在短时过电流中的主导作用,挑战了PCM在瞬态热管理中的传统优势认知。
  2. 工程意义:提出铜块作为更易制造的解决方案,尤其适合SiC器件的高功率密度应用(如电动汽车逆变器)。
  3. 局限性:铜块增加稳态热阻,未来需研究顶部散热方案(如石墨烯复合PCM)以兼顾稳态与瞬态性能。

研究亮点

  1. 创新方法:首次系统对比铜块与铜-PCM在Si/SiC器件中的热缓冲性能,填补了毫秒级过电流研究的空白。
  2. 多场景验证:覆盖逆变器和DC/DC变换器,结论具有普适性。
  3. 跨学科融合:结合电力电子(器件损耗模型)与材料科学(PCM相变动力学),为热-电协同设计提供范例。

其他有价值内容

  • 数据可用性:文中未公开原始数据,但提供了完整的仿真参数(表1-2)供复现。
  • 冲突声明:作者声明无利益冲突,研究受Hitachi Energy Research和瑞典能源署资助。

(注:专业术语如“结温”(Junction Temperature)、“相变材料”(Phase Change Material, PCM)等均在首次出现时标注英文原文。)

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