聚合物电介质表面电荷积聚的根本原因研究学术报告
作者及机构
本研究的通讯作者为清华大学电机工程系的张贵新(Guixin Zhang)教授与材料科学与工程学院的刘剑波(Jianbo Liu)副教授,第一作者为清华大学电机工程系的王天宇(Tianyu Wang)与材料科学与工程学院的李小芬(Xiaofen Li)。合作单位还包括西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室。研究成果于2022年6月9日在线发表于《Science China Materials》(《中国科学:材料科学》英文版),2022年10月第65卷第10期正式刊出。
学术背景
聚合物电介质(polymer dielectrics)因其优异的绝缘性能、低能量损耗和高可靠性,广泛应用于柔性电子器件、电容器及高压电力传输设备中。然而,其表面电荷积聚问题长期存在,易引发局部电场畸变、闪络(flashover)甚至设备爆炸。尽管已有研究尝试通过等离子体处理(plasma treatment)、直接氟化(direct fluorination)或涂层技术(coating)等手段抑制电荷积累,但效果有限,核心瓶颈在于电荷载流子深陷阱(deep traps)的化学本质尚未明确。
本研究聚焦环氧树脂(epoxy resin, EP)等聚合物,提出自由基(radicals)可能是深陷阱的关键载体,并通过多尺度实验与理论计算揭示了其作用机制。研究目标包括:(1)验证自由基的深陷阱特性;(2)阐明其微观电荷捕获机理;(3)开发基于自由基清除剂(radical scavenger)的表面电荷调控方法。
研究流程与方法
1. 自由基分布与电荷特性表征
- 研究对象:环氧树脂(EP)薄膜,辅以双向拉伸聚丙烯(BOPP)和聚酰亚胺(PI)薄膜作为对比。
- 实验方法:
- 磁力显微镜(MFM):扫描5 μm×5 μm区域,观测自由基分布(图1a),亮色区域为自由基富集区。
- 开尔文探针力显微镜(KPFM):在纳米尺度测量自由基区与非自由基区的电荷耗散特性(图1b-e)。结果显示,自由基区电荷在偏压撤除后几乎不耗散(图1c),而非自由基区电荷在140秒内完全消散(图1e),表明自由基具有强电荷捕获能力。
- 等温表面电位衰减法(ISPD):量化陷阱参数,自由基区陷阱能级达0.94 eV,显著高于非自由基区的0.86 eV(图1f),证实自由基为深陷阱。
第一性原理计算
自由基清除实验验证
普适性验证
在BOPP和PI中重复实验,电荷密度均显著降低(图S4-S10),证明自由基作为深陷阱的机制具有跨材料普适性。
主要结果与逻辑链条
- 自由基的深陷阱特性:MFM与KPFM直接观测到自由基对电荷的稳定捕获行为,ISPD定量分析证实其高能级陷阱特性。
- 理论机制:第一性计算揭示自由基引入的深能级缺陷态,与实验结果互为支撑。
- 工程应用价值:自由基清除剂处理使表面电荷积累减少80%以上,闪络电压大幅提升,为解决高压设备绝缘问题提供了新方案。
结论与价值
1. 科学意义:首次通过实验与理论结合,证明聚合物中的自由基是电荷载流子的深陷阱,填补了该领域机制研究的空白。
2. 方法论创新:融合MFM、KPFM纳米表征与第一性原理计算,为聚合物介电性能研究提供了多尺度分析范式。
3. 应用价值:自由基清除剂处理工艺简单、效果显著,可直接应用于电力设备绝缘材料改性,提升安全性与可靠性。
研究亮点
- 发现层面:揭示自由基是聚合物表面电荷积累的根源,突破传统“物理缺陷主导陷阱”的认知。
- 技术层面:开发基于自由基清除的电荷调控方法,闪络电压提升幅度创纪录(72.8%)。
- 跨学科融合:材料科学、高压绝缘与计算物理方法的深度结合,为类似问题研究提供模板。
其他价值
研究建立的微观电荷表征方法(如KPFM与MFM联用)对纳米电介质、有机半导体等领域的电荷行为研究具有重要参考价值。