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测量电介质中电荷分布的声学和光学方法

期刊:ieee transactions on dielectrics arid electrical insulation

本文档属于类型b(综述论文)。以下是针对该文档的学术报告:


作者及机构
本文由Tatsuo Takada(日本东京武藏工业大学/Musashi Institute of Technology)撰写,发表于1999年10月的《IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation》(第6卷第5期)。论文题为《Acoustic and Optical Methods for Measuring Electric Charge Distributions in Dielectrics》,是对过去20年间电介质中电荷分布测量技术的系统性综述,重点介绍了作者实验室的研究成果。


主题与背景
论文聚焦于电介质材料内部电荷分布的声学与光学测量方法。电介质在高电场下会因电荷注入或杂质解离形成空间电荷,导致电场畸变并可能引发绝缘失效。传统电导率(conductivity)和介电常数(permittivity)测量仅适用于稳态均匀电场,而现代紧凑化电子设备使绝缘材料承受更高电场(>1 MV/cm),亟需直接观测电荷动态分布的技术。本文旨在总结声学(如PEA和PWP方法)与光学(如Pockels效应和Kerr效应)技术的原理、进展及应用。


主要观点与论据

1. 声学测量方法的原理与比较
- 核心方法
- 脉冲电声法(PEA, Pulsed Electroacoustic):通过电压脉冲激发电荷产生声波,压电传感器检测声波信号反演电荷分布。
- 压力波传播法(PWP, Pressure Wave Propagation):利用压电或激光产生压力波扰动电荷,通过位移电流推算分布。
- 技术对比
- PEA的电路与信号检测分离,抗干扰性强,适用于击穿场强测量;PWP需阻抗匹配,易受噪声影响。
- 两者空间分辨率均为2-5%,可测样品厚度范围0.1-20 mm。
- 应用案例
- 电子束辐照PMMA样品中电荷分布的测量(图5-6),验证了两种方法的一致性。
- 交联聚乙烯(XLPE)电缆在直流高压下的电荷动态(图17),揭示异质电荷(heterocharge)积累与“电荷包”(packet charge)现象。

2. 动态电荷行为的高时间分辨率研究
- 改进PEA系统:通过同步控制脉冲电压与相位锁定,实现短间隔(1秒)和交变电压下的电荷动态观测。
- 案例1:乙酰苯酚(acetophenone)涂层LDPE中正电荷快速注入(2秒内)及迁移(图8)。
- 案例2:XLPE在0.0002 Hz至50 Hz交流电压下的相位依赖性电荷分布(图11-12),低频(<0.02 Hz)下电荷积累显著。

3. 三维电荷分布测量技术
- PEA扫描法:通过小电极(直径1 mm)局部激发,结合X-Y平台移动实现三维成像,但耗时较长(7小时/21×21点)。
- PWP声透镜法:聚焦声波提高空间分辨率(0.8 mm),测量速度更快(35秒/点),成功呈现电子束辐照PMMA的“7”字形电荷分布(图20)。

4. 光学测量技术的进展
- Kerr效应:用于液体电介质(如变压器油)的电场分布测量,通过双折射(birefringence)变化反演电场。
- 技术突破:引入锁相放大器和光学调制(图28-29),灵敏度显著提升。
- Pockels效应:适用于晶体材料表面放电动态观测(如空气间隙放电),结合数字相机实现二维电荷分布成像。
- 光弹性效应(photo-elastic effect):测量固体材料机械应力分布,与电荷诱导应力耦合时需分离Kerr效应影响。

5. TSC与电荷分布同步测量
- 创新方法:结合热刺激电流(TSC)与动态空间电荷分布,分离传导电流与位移电流(式12-14)。
- 案例:电子束辐照PMMA中陷阱深度(0.6 eV)和迁移率(10⁻¹⁴ m²/Vs)的位置依赖性分析(图26-27)。


论文价值与意义
1. 学术价值:系统梳理了声学与光学电荷测量技术的物理原理与实验设计,为电介质电荷动力学研究提供了方法论指导。
2. 应用价值
- 高压电缆绝缘设计:通过电荷分布优化可抑制异质电荷积累,提升直流电缆可靠性(如250 kV XLPE电缆的长期稳定性验证)。
- 故障诊断:水树(water tree)降解区域的电荷行为(图10)为老化评估提供依据。
3. 技术前瞻性:三维电荷成像和动态测量技术为纳米器件绝缘分析开辟新途径。


亮点总结
1. 方法学创新:PEA与PWP的对比校准(式10-11)、光学锁相技术提升信噪比。
2. 跨学科融合:声学、光学与电学技术的协同应用。
3. 工程指导性:电荷动态数据直接关联绝缘材料寿命与击穿机制。


此综述为电介质电荷研究提供了全面的技术路线图,其方法论框架至今仍具参考价值。

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