分享自:

基于烧结银的直接冷却IGBT的高输出功率与热可靠性研究

期刊:IEEE Transactions on Device and Materials ReliabilityDOI:10.1109/TDMR.2025.3598012

类型a:

本文档报告了一项关于烧结银(sintered silver)基直接冷却绝缘栅双极晶体管(IGBT)的原创性研究,由Bowen Zhang、Xinyan Lu、Yibin Sun、Youzheng Wang(IEEE会员)和Yun-Hui Mei(IEEE高级会员)合作完成,研究团队来自天津工业大学(Tiangong University)。该研究于2025年9月发表在IEEE Transactions on Device and Materials Reliability(第25卷第3期)。

1. 学术背景

IGBT模块在直流/交流(DC/AC)功率转换过程中会产生大量热量,因此需要高效的直接冷却(direct-cooled)散热结构。目前,商用热界面材料(Thermal Interface Materials, TIMs)如导热硅脂和锡基焊料(如SAC 305)存在导热性能低、长期使用易失效等问题。相比之下,烧结银(sintered silver, Ag)具有高导热性(>200 W/mK)、高熔点(961°C)和优异的机械稳定性,被认为是下一代功率器件封装的关键材料。然而,在直接冷却结构中,烧结银的大面积连接(>400 mm²)可能导致有机溶剂分解不完全,从而影响连接层的可靠性。

本研究旨在利用烧结银作为DBC(Direct Bonded Copper)基板与散热器之间的热界面材料,开发高输出功率和热可靠性的直接冷却IGBT模块,并通过实验和仿真验证其性能优势。

2. 研究流程

研究主要包括以下几个关键步骤:

(1)有限元仿真分析

  • 仿真模型:采用Fluent软件建立稳态热仿真模型,包含芯片(Si)、烧结银连接层、DBC基板(Cu-Si₃N₄-Cu)、散热器(Cu)等结构(图1)。
  • 流体-固体耦合传热:模拟冷却液(流速10 L/min,入口温度26°C)对模块的散热效果。
  • 对比分析:比较烧结银-IGBT(sintered Ag-IGBTs)和SAC 305-IGBTs的温度分布、热阻等参数。

(2)模块制备

  • 材料:实验室自制银浆(80 μm厚)用于DBC与散热器的连接,商用SAC 305作为对比材料。
  • 工艺
    • 银浆通过丝网印刷和300°C烧结实现连接(图4a)。
    • SAC 305采用回流焊工艺(图4b)。
    • 芯片与DBC通过烧结银连接(260°C,无压力烧结)。
    • 采用超声波焊接完成电气互连,并封装模块(图3)。

(3)电性能测试

  • 静态I-V特性:测试不同栅极电压(Vge=12 V, 15 V, 18 V)下的输出电流(Ice)。
  • 动态开关特性:通过双脉冲测试(double-pulse test)测量开关时间(ton/toff)和开关损耗(Eon/Eoff)。

(4)热性能测试

  • 瞬态热阻抗(Zth)曲线:基于JESD51-14标准,采用瞬态双界面法测量模块的热阻。
  • 红外热成像(IR):监测芯片表面温度分布,验证散热均匀性。

3. 主要结果

(1)仿真结果

  • 烧结银-IGBTs的最高芯片温度(90.53°C)比SAC 305-IGBTs(92.32°C)低1.99%。
  • 烧结银模块的高温区域(HTR)比例显著降低,表明其散热均匀性更优(表II)。

(2)电性能

  • 输出电流提升:在Vge=18 V、Vce=1.482 V条件下,烧结银-IGBTs的输出电流达848 A,比SAC 305-IGBTs(812 A)高4.4%(图6)。
  • 开关损耗降低:烧结银模块的总开关损耗(Eall)为4.537 mJ,比SAC 305模块(6.135 mJ)降低26%(图7)。

(3)热性能

  • 热阻降低:烧结银模块的稳态热阻比SAC 305模块低11.9%(图8)。
  • 芯片结温降低:在200 A加热电流下,烧结银模块的芯片平均结温比SAC 305模块低5.6°C(图9, 10)。

4. 结论与意义

本研究通过烧结银实现了DBC与散热器的大面积连接(63×40 mm²),显著提升了直接冷却IGBT模块的输出功率热可靠性。具体价值包括:
- 科学价值:验证了烧结银作为高性能TIMs的可行性,为功率器件封装提供了新的热管理路径。
- 应用价值:模块的开关损耗降低26%,输出电流提升4.4%,可推动高功率密度应用(如电动汽车、可再生能源发电)的发展。

5. 研究亮点

  • 创新方法:首次将烧结银应用于直接冷却IGBT的大面积连接,解决了传统材料的可靠性问题。
  • 多维度验证:结合仿真、电性能测试和热分析,全面评估了烧结银模块的性能优势。
  • 工业适用性:采用的丝网印刷和低温烧结工艺易于规模化生产。

6. 其他有价值内容

  • 研究中开发的瞬态热阻抗测试方法(基于JESD51-14标准)为功率模块的热性能评估提供了可靠方案。
  • 红外热成像数据(图9)直观展示了烧结银模块的散热均匀性,为后续优化提供了依据。
上述解读依据用户上传的学术文献,如有不准确或可能侵权之处请联系本站站长:admin@fmread.com