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作者及发表信息
本研究由Zhang Xiangzhao、Zhou Yansheng、Zhang Yinuo、Chen Kerou、Liu Guiwu和Qiao Guanjun(通讯作者)合作完成,研究团队来自江苏大学材料科学与工程学院。论文发表于期刊Ceramics International(2025年,第51卷,第12940–12950页),标题为《Theoretical screening and experimental fabrication of metallized layer for enhanced Cu wetting and adhesion on Si3N4 substrate》。
学术背景
研究领域为陶瓷-金属复合材料,具体聚焦于氮化硅(Si3N4)覆铜层压板(Si3N4 CCL)的界面结合优化。Si3N4陶瓷因其高热导率、高弯曲强度和断裂韧性,成为高功率电子器件(如IGBT模块)的理想基板材料。然而,铜(Cu)与Si3N4的润湿性差,传统活性金属钎焊(active metal brazing)方法存在工艺复杂、界面残余应力等问题。因此,本研究旨在通过理论计算筛选金属化层(metallized layer)并结合实验验证,开发一种新型的Cu/Si3N4界面强化策略,以提升结合强度和导电性能。
研究流程
研究分为理论筛选和实验验证两大阶段,具体流程如下:
1. 理论筛选金属化层
- 筛选标准:基于熔点(>1083°C)、热膨胀系数(CTE,3–17×10⁻⁶/K)、与Cu的固溶度(solid solubility)及界面粘附功(work of adhesion, Wa)四个指标,从59种金属中初筛出Ni、Co、Rh、Pd、Pt五种候选金属。
- 密度泛函理论(DFT)计算:通过VASP软件模拟金属(111)/Si3N4(0001)界面,计算Wa值。结果显示,Ni/Si3N4界面的Wa最高(3.44 J/m²),显著优于Cu/Si3N4(1.41 J/m²),且电荷转移分析表明Ni与Si3N4的相互作用更强。
2. 实验制备与表征
- Ni层制备:采用丝网印刷(screen-printing)技术将Ni浆料涂覆于Si3N4基板,经干燥和真空烧结(1100°C/120分钟)形成多孔Ni层。通过调整印刷次数(1–4次)控制厚度(60–105 μm),发现3次印刷的Ni层(3Ni-Si3N4)孔隙均匀且界面无缺陷。
- Cu覆层工艺:将不同质量(0.05–0.30 g)的Cu片置于Ni-Si3N4表面,在1150°C真空炉中熔融渗透。实验表明,0.20 g Cu可完全填充Ni层孔隙,形成致密的Cu-Ni合金层,且界面结合最佳;过量Cu(≥0.25 g)会导致界面富Cu相聚集,削弱结合强度。
- 性能测试:
- 力学性能:通过剪切测试评估结合强度,Cu质量为0.20 g时,3Ni-Si3N4/Cu/3Ni-Si3N4接头的平均剪切强度达14.9 MPa。
- 电学性能:霍尔效应测试显示,优化后的Si3N4 CCL表面电导率达1.01×10⁵/(Ω·cm),满足高功率器件需求。
3. 数据分析
- 微观结构:SEM和EDS分析证实,Cu-Ni合金层由表面富Cu区、中部富Ni区及界面过渡区组成,且富Cu相分布影响界面结合。
- DFT辅助验证:计算表明,界面处掺杂Cu会降低Wa(从3.44降至2.23 J/m²),与实验中过量Cu导致界面失效的现象一致。
主要结果
- 理论筛选:Ni因其高Wa和与Cu的无限固溶性,被确定为最佳金属化层。
- Ni层优化:3次印刷的Ni层孔隙均匀(平均孔径8.35 μm),与Si3N4界面无缺陷。
- Cu渗透行为:0.20 g Cu可实现平面铺展和垂直渗透,形成等轴晶结构的致密合金层;过量Cu导致界面裂纹。
- 性能数据:最优样品的剪切强度(14.9 MPa)和电导率(1.01×10⁵/(Ω·cm))均显著提升。
结论与价值
- 科学价值:提出了一种基于DFT计算指导的金属化层设计策略,揭示了Cu-Ni/Si3N4界面的结合机制。
- 应用价值:开发的Si3N4 CCL具有优异的界面结合和导电性,适用于高功率电子器件的散热与电路集成。
- 方法论创新:结合理论筛选与丝网印刷-熔渗工艺,为陶瓷-金属复合材料提供了可扩展的制备方案。
研究亮点
- 多尺度设计:从原子尺度(DFT计算)到宏观工艺(丝网印刷)的全流程优化。
- 界面调控:首次通过控制Cu质量避免富Cu相聚集,解决了高固溶度体系的界面失效问题。
- 性能突破:实现了Si3N4 CCL力学与电学性能的协同提升,优于传统钎焊方法。
其他价值
- 补充数据(如孔隙分布统计、XRD相分析)为类似研究提供了详实的实验参考。
- 开源筛选代码(GitHub)促进了计算材料学的工具共享。
(报告总字数:约1500字)