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具有增强导热性和电磁波吸收性能的先进多功能IGBT封装材料

期刊:journal of colloid and interface scienceDOI:10.1016/j.jcis.2023.09.073

学术研究报告:具有增强导热性和电磁波吸收性能的先进多功能IGBT封装材料

第一作者及机构
本研究的通讯作者为Yubo Luo和Junyou Yang,均来自华中科技大学材料科学与工程学院材料成形与模具技术国家重点实验室。第一作者Yongxin Qian与共同第一作者Shuangfu Gang同属该机构。研究成果发表于《Journal of Colloid and Interface Science》第653卷(2024年),2023年9月17日在线发布。

学术背景
本研究属于功能材料与电子封装交叉领域,聚焦绝缘栅双极晶体管(IGBT)在高频电子应用中面临的热积累和电磁干扰(EMI)问题。传统环氧树脂(epoxy resin)封装材料因本征导热性低(~0.2 W/(m·K))和电磁波透射特性,难以满足高功率密度IGBT的需求。尽管通过添加碳纳米管、氮化硼等填料可改善性能,但高填充量会牺牲机械强度与加工性。因此,研究团队提出通过三维碳结构诱导纳米材料分散策略,开发兼具高效电磁波吸收(EMA)和热管理功能的新型环氧基复合材料(MDCF@C-ZrO2/EP),旨在实现低填充量下的高性能协同优化。

研究流程与方法
1. 材料合成
- MF@Zr-MOF制备:以三聚氰胺泡沫(MF)为基底,通过水热法原位生长锆基金属有机框架(Zr-MOF)。通过调节ZrCl4与对苯二甲酸(PTA)的摩尔比(1:0.57至1:0.75),制备了三种不同负载量的MF@Zr-MOF-x(x=1,2,3)。
- 碳化处理:在氩气氛围下900℃煅烧2小时,将MF@Zr-MOF转化为三维碳纤维网络(MDCF)嵌入多孔碳包覆ZrO2纳米颗粒(C-ZrO2)的异质结构(MDCF@C-ZrO2-x)。热重分析(TGA)显示C-ZrO2负载量分别为16.14 wt%、27.84 wt%和39.28 wt%。
- 复合材料成型:采用真空辅助湿法浸渍工艺,将5 wt% MDCF@C-ZrO2分散于环氧树脂前驱体中,经80℃固化获得MDCF@C-ZrO2/EP。

  1. 表征与测试
    • 结构分析:X射线衍射(XRD)证实ZrO2的(111)、(200)晶面存在;扫描电镜(SEM)显示MDCF@C-ZrO2保留了三维网络结构,透射电镜(HRTEM)观察到ZrO2纳米颗粒(晶面间距0.295 nm)均匀分散于碳基质中。
    • 电磁性能测试:通过矢量网络分析仪(N5244A)测量复介电常数,采用传输线理论计算反射损耗(RL)。MDCF@C-ZrO2-2在5 wt%填充量下,最小RL达-58.92 dB(12.98 GHz),有效吸收带宽(EAB)为6.68 GHz(覆盖Ku波段)。
    • 热导率测试:激光闪射法测得MDCF@C-ZrO2/EP的热导率为0.45 W/(m·K),较纯EP提升150%。红外热成像显示其表面温差降低8℃,水蒸发实验证实其传热效率显著优于纯EP。

关键结果与逻辑链
1. 电磁波吸收机制
- 三维网络效应:MDCF的连续碳骨架促进自由电荷迁移,增强导电损耗;多孔C-ZrO2通过界面极化(XPS证实C-O-Zr键存在)和偶极极化(Cole-Cole曲线显示多弛豫过程)提升介电损耗。
- 阻抗匹配优化:MDCF@C-ZrO2-2的阻抗匹配值(|Zin/Z0|)接近1,结合适中的衰减常数(α),实现电磁波高效捕获与耗散。雷达散射截面(RCS)模拟显示其最大减缩值达32.27 dBm²。

  1. 热传导增强机制
    • 声子传输路径:MDCF的互连网络减少界面热阻,C-ZrO2纳米颗粒增加填料-基体接触面积,协同构建高效热输运通道。

研究结论与价值
1. 科学价值:首次通过三维碳网络限域分散策略,实现低填充量(5 wt%)下环氧树脂的导热与电磁吸收性能协同提升,为多功能电子封装材料设计提供新思路。
2. 应用价值:MDCF@C-ZrO2/EP可解决IGBT在高频高功率场景下的热管理和EMI屏蔽难题,推动下一代无线通信与智能设备发展。

研究亮点
1. 创新结构设计:MDCF@C-ZrO2的异质界面密度较传统复合材料提升3倍(BET比表面积达107.56 m²/g),通过界面工程实现性能突破。
2. 性能优势:电磁波吸收性能优于多数文献报道的碳基材料(如石墨烯/ZnO泡沫RL=-42 dB),热导率提升效率(150%)显著高于同类研究(通常<100%)。

其他发现
- 填充量阈值效应:当C-ZrO2负载量超过27.84 wt%时,因颗粒团聚导致EMA性能下降,表明界面优化存在临界点。
- 环境稳定性:TGA显示材料在空气中稳定至400℃,满足电子封装工况需求。

本研究通过多尺度结构调控与跨学科方法,为高性能电子封装材料开发树立了新标杆。

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