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基于色差共焦传感器的多层厚度测量新方法

期刊:nanomanufacturing and metrologyDOI:10.1007/s41871-024-00241-w

学术研究报告:基于色差共焦传感器的多层透明板厚度测量新方法

一、研究团队与发表信息
本研究由浙江大学机械工程系的Tiancheng Liu、Yutong Hong、Jiajun Wu、Wule Zhu和Bingfeng Ju合作完成,发表于期刊*Nanomanufacturing and Metrology*(2024年7卷22期)。

二、学术背景与研究目标
多层透明板(如光学透镜、电极、太阳能电池板)的厚度和均匀性直接影响产品性能,但传统接触式测量方法(如原子力显微镜AFM、透射电子显微镜TEM)存在精度不足和损伤样本的风险。非接触式方法(如光谱椭偏仪SE)依赖复杂建模,且难以应对多层结构(尤其是18层以上)的测量需求。为此,本研究提出一种基于色差共焦传感器(chromatic confocal sensor)的新型非接触测量技术,旨在实现多层透明板厚度的快速、高精度、无损测量。

三、研究流程与方法
1. 理论模型构建
- 单层模型:基于斯涅尔定律(Snell’s law)和几何光学,推导单层透明板厚度公式(公式4),其中通过色差共焦探头测量光斑轴向距离(δ)与折射角(θ₁)的关系。
- 多层扩展模型:考虑多层介质折射率差异,建立迭代公式(公式7),通过逐层计算厚度(dᵢ)并引入修正因子(kₙ)补偿光学路径偏差。

  1. 实验系统搭建

    • 硬件配置:采用C1200型色差共焦探头(Tronsight Ltd.)、多模光纤、旋转台(Daheng Optics GCM-1107M)及Z轴运动平台,构建非接触测量系统(图4)。
    • 样本制备:设计五层透明样本(3层石英板+2层空气层,图5),通过紫外胶固定,确保层间几何中心对齐。实际厚度通过超景深显微镜(Keyence VHX-600,亚微米精度)标定(图7)。
  2. 校准与测量

    • 垂直校准:调整探头与样本垂直度,确保光谱信号峰值在探头范围内。
    • 修正因子获取:测量9组单层石英板厚度,通过对比显微镜标定值,确定修正系数0.8808(图8)。
    • 多层测量:在样本边缘8个点位采集数据,每点10次重复测量,计算均值及方差(表1显示最大方差1.31 μm²)。
  3. 几何状态建模

    • 基于厚度数据拟合五层样本的三维模型(图11),评估各层平行度与平面度(图12)。例如,第三层上下表面平均夹角0.258°,第五层平均曲率-5.519e-08 μm⁻¹。

四、主要结果
1. 测量精度:五层厚度最大绝对误差13 μm,石英层相对误差≤4.27%,空气层经二次修正后误差降至5%-10%(图9、图10)。
2. 稳定性验证:测量方差<1.05 μm²,证明操作波动影响可控(表1)。
3. 多层扩展能力:理论可测18层(单层最小厚度0.064 mm,传感器范围1.154 mm),实际五层实验验证了方法的鲁棒性。

五、结论与价值
1. 科学价值:首次将色差共焦技术扩展至多层透明板测量,解决了折射率差异和超薄空气层导致的误差累积问题。
2. 应用价值:适用于半导体、电池、太阳能电池等工业场景,支持在线无损检测,理论测量层数远超现有光学相干断层扫描(OCT)技术。
3. 创新性:提出迭代修正模型,结合工程校准(如空气层修正因子1.09097),平衡理论精度与实际操作需求。

六、研究亮点
1. 提出基于色差共焦原理的多层厚度测量新方法,突破传统单层测量限制。
2. 制备五层石英-空气样本并实测各层折射率,验证方法可行性。
3. 单次测量即可获取各层厚度,结合多点测量评估平面度与平行度。

七、其他发现
研究指出,色散效应(550-650 nm波段石英折射率变化0.0058)对结果影响可忽略,主要误差来源为探头垂直度偏差及修正系数有限样本量。未来可通过优化探头设计或增加校准样本提升精度。

资助信息:浙江省自然科学基金(LDT23E05012E05)、国家自然科学基金(52175439)等支持。

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