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一种用于热点热管理的超低压降混合微通道散热器

期刊:International Journal of Heat and Mass TransferDOI:10.1016/j.ijheatmasstransfer.2023.124201

综合报告

研究基本信息

本文题为《A hybrid microchannel heat sink with ultra-low pressure drop for hotspot thermal management》,发表于 International Journal of Heat and Mass Transfer 第211卷(2023年),文章编号124201。文章的主要作者为 Xixin Rao、Cheng Jin、Haitao Zhang、Jianhao Song 和 Chengdi Xiao,作者所属机构包括南昌大学先进制造学院(School of Advanced Manufacturing,Nanchang University)和上海海立电器有限公司研发中心(Shanghai Highly Electric Co., Ltd.)。本文于2023年1月29日收到初稿,4月4日完成修改,4月13日接受发表,并于4月26日在线发布。

研究背景

本研究领域属于微通道热沉(microchannel heat sink)与热点热管理(hotspot thermal management)的交叉学科。近年来,随着摩尔定律推动处理器上晶体管数量的指数增长,电子器件的内部热通量不断上升,在超大规模集成电路(VLSI)中甚至可达到 (10^3 \sim 10^4 \, \text{W}/\text{cm}^2)。传统的自然和强迫空气冷却方式,其冷却能力已低于 (100 \, \text{W}/\text{cm}^2),无法满足高热通量电子设备的散热需求。

微通道热沉因其紧凑结构、高传热效率和低噪音的优点,被认为是一种最有前景的高功率密度芯片散热技术。然而,在高性能芯片中热通量分布并不均匀,核心区域中的热通量密度可能显著高于芯片其他区域,这些区域被称为“热点”(hotspot)。热点和背景区域间的显著散热差异会导致较大的温度梯度,从而引发热应力及其他可靠性问题。本研究提出了一种创新的混合式微通道热沉(hybrid microchannel heat sink, IM-HM heat sink),旨在解决上述关键问题。

研究目标

本研究旨在设计一种具有超低压降(ultra-low pressure drop)的混合式微通道热沉,以提高热点区域的散热性能,同时降低整机能耗,并提升温度分布均匀性。

研究流程

步骤一:设计热沉几何模型

本文采用了混合式微通道热沉(IM-HM heat sink)的设计,与传统矩形微通道热沉(RM heat sink)进行对比。IM-HM 热沉包括四部分:顶盖板、框架、微通道和针鳍(pin fins)。其中,冷却液从位于热点正上方的中心入口进入,通过针鳍和微通道后,从两侧矩形出口排出。微通道高度和入口圆角斜切(chamfer angle)被作为关键参数优化。

步骤二:数值方法与边界条件

为了分析微通道内的流体流动及传热特性,研究采用了 CFD(计算流体动力学) 模拟工具 Fluent,计算使用的模型包括层流模型和 k-ε 湍流模型。计算假设冷却液为去离子水(deionized water),热沉材料为硅(silicon),入流温度设为300K,热点区域施加 (300 \, \text{W}/\text{cm}^2) 的热流量,背景区域施加 (50 \, \text{W}/\text{cm}^2) 的热流量。此外,为提高计算效率,采用了四分之一对称模型。

步骤三:模型验证

IM-HM 热沉的模拟结果通过与已发表文献的实验数据和数值结果进行比对,验证了数值方法的准确性。例如,最大温度和压力降等结果皆呈现较好的一致性。

步骤四:重点实验与性能评估

为了系统地研究 IM-HM 热沉的性能,作者主要通过以下变量进行分析: 1. 雷诺数(Reynolds number):范围为200至1000; 2. 微通道高度(microchannel height):从500至1500微米; 3. 入口圆角斜切(chamfer angle):从0到500微米。

评估指标包括最大温度((T\text{max}))、温度差异((\Delta T))、压力降((\Delta P))及总热阻((R\text{tot}))。

研究结果

性能对比:IM-HM vs. RM

  1. 压力降:IM-HM 热沉的压力降显著低于 RM 热沉。采用相同质量流量时,IM-HM 热沉的压力降减少了51.8%((Re = 200))和4.4%((Re = 1000))。
  2. 最大温度:IM-HM 热沉的热点温度较 RM 热沉少40.0%((Re = 200))和47.5%((Re = 1000))。这一差异主要归因于冷却液直接接触热点,提高了局部换热能力。
  3. 温度均匀性:IM-HM 热沉的温度差显著降低。热点区域的温差仅为10.9K或更低(当(Re = 200)),而 RM 热沉的温差高达41.9K。IM-HM 热沉在整个底面上的温度梯度也比 RM 热沉更平缓。

关键参数的影响

  1. 入口圆角斜切:当增加圆角至500微米时,不同雷诺数下的压力降减少高达63.4%。然而,较大的圆角稍微提高了最大温度和温差(增加约1.4-3K)。
  2. 微通道高度:增加微通道高度可显著降低压力降(最高降低72.3%)。但随高度增加,最大温度线性升高(增加2.4-3.6K),温差也相应增大。

综合优化:结合优化入口圆角(500微米)和微通道高度(1500微米)后,IM-HM 热沉在性能上具显著优势。在(Re = 200)时,其压力降仅为 RM 热沉的1.6%,而温差减少至17.7K。

应用价值

  1. 节能性:优化后的 IM-HM 热沉相比 RM 热沉,可减少98.4%的能耗来达到相同的冷却效果。
  2. 高热功率芯片的适用性:IM-HM 热沉特别适用于具有热点的单核高功率密度芯片。此外,该设计理念也可扩展至多核芯片热管理。

研究意义与亮点

  1. 本研究提出了一种具有超低压降且高效的混合式微通道热沉,为解决热点散热问题提供了新的技术途径。
  2. 该研究优化了入口流体分布和散热结构设计,成功降低了压力降和能耗,同时显著提升了温度均匀性。
  3. 研究中系统分析了关键结构参数的影响,为微通道热沉的设计提供了全面的参考。

结论与未来研究方向

本文研究表明,IM-HM 热沉在降低压力降、提升热点散热效率和均匀性方面表现出色,为高功率密度电子器件的热管理提供了重要解决方案。然而,目前的研究主要局限于单热点条件,未来需要拓展至多热点和多核场景,以更广泛地应用于复杂电子设备的热管理系统。

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