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基于钛掺杂Ga2O3/Si p-n异质结的日盲紫外光电探测器

期刊:Journal of Materials Science: Materials in ElectronicsDOI:10.1007/s10854-022-08840-3

该文档由Ugur Harmanci、M. Tahir Gulluoglu、Ferhat Aslan、Abdullah Atilgan和Abdullah Yildiz共同撰写,分别来自土耳其的Harran大学和Ankara Yildirim Beyazıt大学。该研究于2022年8月12日发表在《Journal of Materials Science: Materials in Electronics》期刊上。该研究首次展示了一种基于钛掺杂(Ti-doped)Ga₂O₃/Si p-n异质结的日盲紫外光电探测器(solar-blind ultraviolet photodetector, SBUP),并探讨了其性能优化及其在军事和民用领域的潜在应用。

学术背景

日盲紫外光电探测器(SBUP)是一种高效的器件,能够在紫外波段(特别是日盲区,即波长小于280 nm的紫外光)进行探测,广泛应用于军事和民用领域。过去几年,研究人员通过使用多种功能材料(如AlₓGa₁ₓN、MgₓZn₁ₓO和Ga₂O₃)来提升SBUP的性能。然而,基于AlₓGa₁ₓN和MgₓZn₁ₓO的SBUP由于合金化过程中产生的大量缺陷态密度,导致其光电响应性能下降。相比之下,Ga₂O₃(GO)因其无需合金化过程、宽禁带特性(wide bandgap)和低成本等优势,成为SBUP的理想候选材料。然而,未掺杂的Ga₂O₃由于其宽禁带特性,表现为电绝缘体,因此需要通过掺杂(如Mg、Zn、Sn、Si和Sb)来改善其光电性能。其中,钛(Ti)掺杂的Ga₂O₃(TGO)因其优异的光电性能而备受关注。

该研究的目标是通过钛掺杂优化Ga₂O₃/Si p-n异质结的性能,并验证其在日盲紫外光电探测器中的应用潜力。研究首次报道了基于TGO/Si p-n异质结的SBUP,并通过实验验证了其性能的显著提升。

研究流程

研究主要包括以下几个步骤:

  1. 材料制备:研究使用硝酸镓水合物(Ga(NO₃)₃·xH₂O)、单乙醇胺(MEA)和2-甲氧基乙醇作为前驱体材料、稳定剂和溶剂,制备了Ga₂O₃溶液。为了研究钛掺杂的影响,分别制备了未掺杂和钛掺杂(Ti/Ga原子比为3%)的Ga₂O₃溶液。溶液在60°C下混合24小时以获得均匀透明的溶液。

  2. 基板处理与涂覆:使用标准程序清洗Si(100)基板,然后通过旋涂技术(spin-coating)将溶液涂覆在基板上,涂覆速度为2000 rpm,持续30秒。涂覆后的样品在150°C下干燥10分钟,然后在900°C下退火。

  3. 电极制备与表征:使用银作为前后电极,通过丝网印刷技术(screen-printing)制备电极,并在150°C下加热10分钟。样品的电流-电压(I-V)特性在254 nm紫外光(UV-C)照射下进行测试。

  4. 材料表征:通过能量色散X射线光谱(EDS)验证了钛掺杂Ga₂O₃的形成,并通过扫描电子显微镜(SEM)观察了薄膜的形貌和厚度。光学性质通过紫外-可见光谱(UV-Vis)进行测试,并使用Tauc方程计算了薄膜的带隙能量。

  5. 光电性能测试:通过I-V特性测试和瞬态光电流响应测试,评估了未掺杂和钛掺杂Ga₂O₃/Si p-n异质结的光电性能。关键参数包括响应度(responsivity)、外量子效率(EQE)、探测率(detectivity)和线性动态范围(LDR)等。

主要结果

  1. 材料表征:EDS结果证实了钛离子成功掺杂到Ga₂O₃晶格中,Ti/Ga原子比为3%。SEM结果显示,未掺杂和钛掺杂Ga₂O₃薄膜的厚度均为450 nm,且表面均匀致密。光学测试表明,钛掺杂Ga₂O₃在可见光区域具有更高的透明度,且在深紫外区域(<280 nm)表现出更强的吸收特性。Tauc方程计算结果显示,未掺杂和钛掺杂Ga₂O₃的带隙能量分别为4.64 eV和4.59 eV。

  2. 光电性能:I-V特性测试表明,钛掺杂Ga₂O₃/Si p-n异质结在反向偏置下表现出显著的光电流增强,响应度为0.382 A/W,远高于未掺杂Ga₂O₃/Si异质结的0.136 A/W。此外,钛掺杂器件的上升时间(rise time)为73 ms,衰减时间(decay time)为85 ms,均优于未掺杂器件。钛掺杂还提高了器件的外量子效率(130%)、探测率(2.3 × 10¹⁰ Jones)和线性动态范围(7.3 dB)。

  3. 机制分析:钛掺杂通过替代Ga₂O₃晶格中的Ga³⁺离子,改善了材料的电导率,并抑制了晶界缺陷态的形成,从而提高了光电性能。钛掺杂还优化了异质结的质量,促进了光生载流子的快速分离和迁移。

结论

该研究首次展示了基于钛掺杂Ga₂O₃/Si p-n异质结的日盲紫外光电探测器,并通过实验验证了其优异的光电性能。钛掺杂显著提高了器件的响应度、外量子效率、探测率和响应速度,使其性能优于大多数已报道的未掺杂Ga₂O₃光电探测器。该研究为下一代光电器件的开发提供了新的思路,具有重要的科学和应用价值。

研究亮点

  1. 首次报道:首次报道了基于钛掺杂Ga₂O₃/Si p-n异质结的日盲紫外光电探测器。
  2. 性能优化:钛掺杂显著提高了器件的光电性能,包括响应度、外量子效率和响应速度。
  3. 机制创新:通过钛掺杂优化了异质结质量,促进了光生载流子的快速分离和迁移。
  4. 应用潜力:该器件在军事和民用领域具有广泛的应用前景,如紫外探测、环境监测和生物医学成像等。

其他有价值的内容

研究还提供了详细的实验数据和对比分析,验证了钛掺杂对Ga₂O₃光电性能的改善作用。此外,研究还探讨了钛掺杂对材料光学性质和带隙能量的影响,为后续研究提供了重要的参考依据。

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