本文档属于类型a,即报告了一项原创性研究。以下是针对该研究的学术报告:
本研究由Jian Lv、Linhai Wei和Simon S. Ang共同完成。Jian Lv来自中国电子科技大学的电子薄膜与集成器件国家重点实验室,同时也在美国阿肯色大学电气工程系工作;Linhai Wei来自中国电子科技大学;Simon S. Ang则任职于美国阿肯色大学电气工程系。该研究于2015年1月30日在线发表在《Analog Integrated Circuits and Signal Processing》期刊上。
本研究属于模拟集成电路设计领域,主要研究高精度带隙基准电压源(Bandgap Voltage Reference, BGR)的设计与优化。带隙基准电压源是模拟、混合信号及数字电路中的关键组件,广泛应用于A/D转换器、DRAM、电源转换器及闪存控制电路等场景。传统带隙基准电压源采用一阶温度补偿,其温度系数(Temperature Coefficient, TC)通常为20-100 ppm/°C,难以满足高精度应用的需求。因此,本研究旨在提出一种新的高阶曲率补偿带隙基准电压源拓扑结构,以进一步降低温度系数并提高电源抑制比(Power Supply Rejection Ratio, PSRR)。
本研究分为电路设计、仿真验证及实验测试三个主要步骤。
本研究提出了一种新的带隙基准电压源拓扑结构,采用双差分输入放大器(Dual-Differential Input Amplifier, DDIA)生成与绝对温度互补的电压(Complementary to Absolute Temperature, CTAT),并利用该电压和DDIA进行曲率补偿。具体电路包括以下部分: - DDIA设计:DDIA由启动晶体管、输入驱动晶体管和折叠式共源共栅晶体管组成,用于生成PTAT(Proportional to Absolute Temperature)电流和一阶温度补偿电压。 - 非线性电压生成:通过双极晶体管(BJT)的基极-发射极电压(Vbe)非线性特性,生成非线性电压项(vnl),用于高阶曲率补偿。 - 曲率补偿:通过DDIA将非线性电压项与一阶温度补偿电压结合,实现高阶温度补偿。
在0.5 µm CMOS工艺下对电路进行仿真,验证其性能。仿真结果显示,该带隙基准电压源的温度系数为1.48 ppm/°C,电源抑制比(PSRR)在1 kHz以下为-82 dB,在10 kHz时为-74 dB。
在0.5 µm CMOS工艺下制造芯片,并进行实验测试。测试结果表明,该带隙基准电压源在-40°C至125°C的温度范围内,温度系数为4.1 ppm/°C,电源电压范围为2.7 V至5 V时,线性调节性能为0.37 mV/V。
本研究提出了一种新的高精度带隙基准电压源拓扑结构,通过双差分输入放大器和曲率补偿技术,实现了低温度系数和高电源抑制比。实验结果表明,该电路在-40°C至125°C的温度范围内表现出优异的温度稳定性,且具有高输出负载电流驱动能力。该电路适用于多种混合信号电路系统,具有重要的应用价值。
本研究还详细分析了电路的小信号等效模型,解释了其高电源抑制比的原理,并提出了电阻修调网络的优化方法,以进一步提高温度性能。此外,研究还对比了该电路与文献中其他带隙基准电压源的性能,证明了其优越性。