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基于深度学习的储粮昆虫检测与识别:一种更有效的神经网络

期刊:IEEE AccessDOI:10.1109/access.2020.3021830

本文介绍了一项基于深度学习的储粮害虫检测与识别研究,由北京邮电大学自动化学院的Zhichao Shi、Hao Dang、Zhicai Liu和Xiaoguang Zhou等人完成,并于2020年9月4日发表在《IEEE Access》期刊上。该研究旨在解决储粮害虫自动检测与分类的难题,提出了一种改进的基于R-FCN(Region-based Fully Convolutional Networks)的神经网络架构,能够快速、准确地检测和识别八种常见的储粮害虫。

研究背景与动机

储粮害虫是粮食储存过程中造成损失的直接原因之一。传统的害虫检测方法(如近红外、声学方法和电导率检测)存在采样困难、速度慢、依赖人工等缺点,难以满足快速、准确的害虫检测需求。近年来,基于深度学习的图像识别方法在农业领域取得了显著进展,例如叶片病害识别和害虫分类。然而,储粮害虫的检测与识别仍然面临诸多挑战,尤其是在复杂背景下检测多个害虫时,存在害虫与粮食颗粒混淆、害虫相互遮挡等问题。

研究方法与流程

本研究提出了一种改进的R-FCN神经网络架构,结合了多尺度训练策略、全卷积网络(Fully Convolutional Network)和软非极大值抑制(Soft-NMS)算法,以提高检测精度和速度。

1. 数据集构建与预处理

研究团队构建了两个储粮害虫数据集:数据集1在实验室环境下采集,包含1716张分辨率为2592×1944的图像,平均每张图像包含14只害虫;数据集2模拟实际粮仓环境,包含784张图像,平均每张图像包含8只害虫。数据集经过精细标注,并采用数据增强技术(如水平镜像、高斯噪声、亮度调整、旋转和裁剪)扩展了训练集,最终生成了10296张图像,接近144000只害虫的图像数据。

2. 目标检测网络架构

改进的神经网络架构包括三个阶段:害虫特征提取、害虫区域搜索和害虫预测。具体步骤如下: - 特征提取:采用改进的DenseNet-121作为卷积神经网络(CNN)的骨干网络,通过深度可分离卷积(Depth Separable Convolution)技术减少参数和计算量。 - 区域建议网络(RPN):RPN模块用于生成潜在害虫区域的候选框,并通过多任务损失函数(包括分类损失和边界框回归损失)进行训练。 - 位置敏感得分图(Position-Sensitive Score Map):通过位置敏感得分图和位置敏感的ROI池化(Region of Interest Pooling)技术,解决了分类网络对位置不敏感的问题。 - 软非极大值抑制(Soft-NMS):采用Soft-NMS算法优化重叠检测框的得分衰减,解决了害虫相互遮挡导致的漏检问题。

3. 模型优化

  • 改进的DenseNet-121:通过将DenseNet-121的最后一层密集块中的3×3卷积替换为深度可分离卷积,减少了网络参数并提高了检测速度。
  • 多尺度训练:在训练过程中随机选择三种输入图像尺度(800×640、1024×800和1280×1024),以提高模型对不同尺度图像的泛化能力。

实验结果与讨论

实验结果表明,改进的R-FCN+++模型在检测精度和速度上均优于现有的目标检测算法。具体结果如下: - 检测精度:在测试集上,改进模型的平均精度(mAP)达到了88.06%,比Faster R-CNN提高了约6.7%。 - 检测速度:单张图像的检测时间从Faster R-CNN的0.217秒降低到0.118秒。 - 实际环境验证:在实际粮仓环境中,模型对两种常见储粮害虫(米象和玉米象)的检测精度有所下降,但仍高于人工检测的效果。

研究结论与意义

本研究提出了一种基于改进R-FCN的储粮害虫检测网络,能够快速、准确地检测和识别多种储粮害虫。通过改进DenseNet-121、引入多尺度训练和Soft-NMS算法,显著提高了检测精度和速度。该研究为储粮害虫的自动化监测提供了有效的技术手段,具有重要的科学价值和应用前景。

研究亮点

  1. 高精度检测:改进的R-FCN+++模型在复杂背景下实现了88.06%的平均检测精度,显著优于现有算法。
  2. 快速检测:通过优化网络结构和引入深度可分离卷积,单张图像的检测时间降低到0.118秒。
  3. 创新算法:首次将Soft-NMS算法应用于储粮害虫检测,有效解决了害虫相互遮挡导致的漏检问题。
  4. 实际应用验证:模型在实际粮仓环境中的检测效果符合预期,为未来的实际应用奠定了基础。

未来研究方向

尽管本研究取得了显著成果,但仍存在一些局限性。例如,实际粮仓环境中的图像复杂度较高,模型检测精度有所下降。未来研究将进一步丰富数据集,优化算法,并探索在复杂光照、杂质等条件下的检测性能提升。

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