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采用伪随机脉冲驱动先进内嵌式触摸屏以减少频谱扩展电磁干扰

期刊:IEEE Sensors JournalDOI:10.1109/JSEN.2018.2813005

本文由Hoonbae Kim(学生会员,IEEE)与Byung-Wook Min(会员,IEEE)共同完成,作者单位均为韩国延世大学(Yonsei University)电气与电子工程系。该研究发表于IEEE Sensors Journal期刊,第18卷,第9期,发表日期为2018年5月1日。

1. 研究背景与目的

本研究聚焦于触控显示技术领域中的一个前沿分支——先进内嵌式触控(Advanced In-cell Touch, AIT)屏幕面板。AIT是一种先进的显示技术,它将触控电极内嵌于显示面板内部,相比传统的“外挂式”(add-on)或“外嵌式”(on-cell)触控面板,具有更薄、成本更低、光学性能更佳以及触控灵敏度更高等优势,因而受到业界广泛关注。然而,AIT面板在带来卓越性能的同时,也引入了一个关键的挑战:显著的电磁干扰(Electromagnetic Interference, EMI)问题。

研究团队深入分析了AIT面板产生EMI的根本机制。AIT面板因其结构特性,触控电极与数据线、栅极线、触控感应线等其他信号线之间会形成巨大的寄生电容。为了克服这种结构脆弱性带来的不利影响,AIT面板普遍采用了负载自由驱动(Load Free Driving, LFD)方法。LFD的基本原理是,在触控感测期间,向面板内的所有电极(包括栅极线、数据线、其他触控电极等)施加与触控驱动信号完全同步的电压信号,从而消除寄生电容两端电势差,使其对触控信号检测的影响降至最低。尽管LFD方法成功提升了触控性能,但它也使得整个面板在触控期间几乎所有的电极同时被驱动,其行为类似于一个平面贴片天线,从而在特定频段(0.15 MHz ~ 30 MHz)辐射出强烈的电磁场。如图1所示,来自LG Display公司的7英寸AIT面板的EMI合规性测试结果显示,其辐射强度在0.15 MHz至3 MHz频段(即AM广播频段)尤为突出,这使得AIT面板难以满足车载电子设备所需的国际无线电干扰特别委员会CISPR-25标准等严格的电磁兼容性要求。

因此,本研究旨在解决AIT技术中EMI性能与触控灵敏度之间的权衡难题。研究的目标是提出一种新颖的驱动方法,在不改变AIT面板物理结构、不牺牲其优异触控性能的前提下,有效降低其工作过程中产生的电磁干扰,从而拓宽AIT技术在汽车、军事、航空等对EMI有严格要求的领域的应用前景。

2. 研究详细工作流程

本研究遵循了理论分析、仿真验证和实验验证的完整流程,逻辑清晰,层层递进。

第一步:EMI产生机制的理论建模与分析。 研究者首先对AIT面板的结构和LFD驱动方法进行了详细的等效电路建模。如图2和图3所示,研究者分析了AIT面板中寄生电容的构成,并阐述了LFD电路的工作原理。核心论点是:正是LFD这种让所有电极同步驱动的独特方式,使得整个面板成为一个高效的辐射源,其辐射频谱特性主要由驱动脉冲的波形决定。为了直观对比,研究者通过示意图(图4)比较了传统外置式触控面板(仅驱动特定电极)与AIT面板(所有电极被驱动)在EMI辐射模式上的根本差异,将AIT面板类比为一个贴片天线,从而从理论上确认了EMI问题的根源在于驱动信号本身。

第二步:AIT操作与EMI的仿真验证。 为了支撑理论分析,研究者首先对AIT的正常操作进行了电路仿真。 * 仿真模型构建: 他们基于LG Display提供的一块7英寸AIT面板规格,建立了详细的仿真模型。该面板包含32x20个触控电极,每个电极由25x24个像素构成。研究的关键在于精确估计每个触控电极对地的总寄生电容(Cp_total)。通过构建子像素的等效电路模型(图5(b)),他们计算出单个触控电极的寄生电容约为150 pF,远大于触摸事件引入的电容变化(Cs,约1 pF)。基于此,他们搭建了包含640个触控电极、传感电路、电压积分器以及手指触摸电容的完整AIT系统仿真模型(图5(a))。 * LFD效果仿真: 在模型中,分别模拟了应用LFD和不应用LFD两种情况。输入驱动脉冲(Vin)为频率100 kHz、幅度6 V的方波。仿真结果(图6)明确显示,在没有LFD的情况下,输出信号Vout包含了来自Cs和Cp的共同影响,导致由触摸引起的电压变化(ΔVout)相对于总Vout的比值(ΔVout/Vout)非常小(约0.075%),触控灵敏度极低。而在应用LFD后,Cp的影响被消除,ΔVout/Vout比值显著提升至6.2%,验证了LFD对于实现AIT高灵敏度触控的不可或缺性。 * EMI频谱仿真与解决方案初探: 紧接着,研究者对上述模型进行了电磁场仿真,以观察其EMI辐射特性。仿真结果(图7)显示,由100 kHz方波驱动的AIT面板,其辐射频谱表现为一系列100 kHz的奇次谐波,该结果与图1中的实际测量结果高度吻合,证实了理论分析的正确性。基于此,研究提出了解决问题的核心思路:频谱扩展(Spread Spectrum)。研究者指出,方波因含有丰富的高次谐波而具有高辐射效率,但这也是其产生强EMI的原因。他们设想,如果能将驱动信号的频谱能量“铺展”在一个更宽的频带上,而不是集中在特定谐波频率,那么每个频点上的峰值辐射水平就会降低,从而满足EMI标准,同时保持信号的总能量(对应触控灵敏度)不变。为了初步验证该想法,他们进行了一个概念仿真(图8):对比100 kHz方波和一个由80, 90, 100, 110, 120 kHz五种频率合成的复合脉冲。仿真表明,复合脉冲的谐波峰值比方波降低了约7 dB,而两者的触控性能(ΔVout/Vout比值)几乎相同。这初步证明了频谱扩展方法是解决AIT面板EMI问题的可行路径。

第三步:提出并验证新型驱动方法——伪随机脉冲(Pseudo Random Pulse, PRP)。 虽然复合脉冲在仿真中有效,但实际中难以应用。因此,研究团队提出了一种实用化的频谱扩展驱动方法:使用伪随机脉冲(PRP)作为LFD的输入驱动信号。 * 实验硬件系统搭建: 为了验证PRP的实际效果,他们搭建了一套完整的实验硬件系统(图9)。该系统包括:一个7英寸AIT裸面板(未覆盖玻璃盖板)、用于触控感测的评估板、用于生成PRP的FPGA开发板(Altera Stratix III)、用于测量电磁场的近场探头(Com-power PS-500)和频谱分析仪(Anritsu MS2830a),以及用于测量触控信号输出的示波器(Rohde & Schwarz RTO1044)。触摸事件通过一个放置在面板中央的50mm×50mm导电物体模拟,并将所有触控电极并联以增加电容变化量,便于精确测量。 * PRP生成与特性: PRP是基于伪随机比特序列(PRBS)方法,使用250 kHz的时钟信号生成的(图10©)。它的波形仍然是脉冲形式,但其脉冲周期(或频率)在一定范围内随机变化,而非像传统方法那样使用固定频率(如100 kHz)的周期方波(图10(b))。这种随机性使得其功率频谱得以自然展宽。 * 实验测量与对比: 实验主要对比了两种输入驱动波形:传统的100 kHz方波和提出的PRP。两者在实验中的幅度均设置为2.5 V(受限于FPGA板),使能时间均为500 μs。实验从两个核心维度进行对比: 1. EMI辐射水平: 使用近场探头和频谱分析仪测量0.15 MHz至30 MHz频段的辐射水平。测量结果(图12)清晰显示,采用PRP驱动后,整个频段内的EMI水平显著降低。在0.3 MHz处,100 kHz方波的辐射为17.5 dBμV,而PRP将其降至11.1 dBμV左右;在10 MHz处,从15.5 dBμV降至9.0 dBμV左右。总体而言,PRP实现了超过6.5 dB的EMI降低。 2. 触控性能保持: 使用示波器测量积分器的输出电压Vout及其在触摸事件下的变化量ΔVout(图13)。数据显示,尽管PRP在500 μs使能期内的脉冲个数(63个)略多于100 kHz方波(50个),导致其非触摸状态下的Vout基准值(3.88 V)略高,但其在触摸时产生的ΔVout(77.8 mV)也相应更高。最关键的评价指标——信噪比或有效信号比率ΔVout/Vout——对于100 kHz方波为1.82%,对于PRP为2.01%。两者数值非常接近,表明PRP驱动在显著降低EMI的同时,完全保持了AIT面板原有的触控灵敏度性能

3. 主要研究成果

本研究通过严谨的理论分析、仿真和实验,系统地证明了所提出的伪随机脉冲(PRP)驱动方法的有效性。主要成果可概括为: 1. 首次深入分析了AIT面板产生EMI的内在机制: 明确指出其根源在于LFD驱动方法导致整个面板像天线一样工作,而驱动信号的频谱特性(特别是周期性方波的高次谐波)是决定EMI辐射谱的关键。 2. 提出并验证了一种创新的频谱扩展解决方案: 将原本用于通信和测试领域的PRBS(伪随机比特序列)技术,首次创新性地应用于触控面板的EMI抑制领域,开发出PRP驱动方法。 3. 实现了显著的EMI降低: 实验测量表明,在0.15-30 MHz的关键频段内,PRP驱动可将AIT面板的EMI峰值降低超过6.5 dB。 4. 确保了触控性能的零妥协: 实验数据证实,PRP驱动下的触控性能指标(ΔVout/Vout)与传统的固定频率方波驱动基本一致,成功解决了EMI与灵敏度之间的权衡矛盾。 5. 提供了无需硬件修改的软件解决方案: 该方案仅需修改驱动集成电路(IC)中的信号生成算法,无需对AIT面板的物理结构、材料或制造工艺进行任何更改,具有极高的实用性和低成本优势。

4. 研究结论与价值

本研究的核心结论是:通过采用伪随机脉冲(PRP)作为AIT面板负载自由驱动(LFD)的输入信号,可以有效地将驱动信号的功率频谱展宽,从而在保持原有高触控灵敏度的前提下,显著降低面板在特定频段产生的电磁干扰(EMI)。这种EMI降低是通过信号层面的调制实现的,无需对面板进行任何结构重构,为AIT技术的商业化应用扫除了一个关键障碍。

该研究的科学价值在于,它为“信号驱动方式如何影响系统级电磁兼容性”这一跨学科问题提供了一个清晰的研究范例,将通信工程中的频谱扩展理论成功应用于显示触控系统的EMI设计。其应用价值则更为直接和重大:它使得AIT这项先进的触控显示技术能够满足汽车、军事、航空等对电磁环境有极端苛刻要求领域的应用标准。在这些领域中,用户界面不仅需要高性能的触控体验,还必须保证极低的电磁辐射,以免干扰车载无线电、航空电子设备或其他敏感系统。本研究提出的PRP驱动方法,为实现这一目标提供了一条切实可行的技术路径。

5. 研究亮点

  1. 问题切入点的创新性: 首次系统性地将AIT面板的EMI问题归因于其核心的LFD驱动方法,并进行了透彻的机制分析。
  2. 解决方案的巧妙性与跨界应用: 创造性地将通信领域的伪随机序列频谱扩展技术,移植到触控面板驱动设计中,以纯信号处理的方式解决硬件电磁兼容问题,体现了跨学科思维的魅力。
  3. 验证体系的完整性: 研究从理论建模、电路与电磁仿真到实物硬件实验,构建了完整、闭环的验证体系,结论坚实可靠。
  4. 极高的实用价值: 所提出的PRP驱动方案不改变硬件,仅通过更新驱动IC固件即可实现,具有开发成本低、易于部署、能快速应用于现有产品线的巨大优势。

6. 其他有价值内容

研究者在论文中也展望了该方法更广泛的应用潜力。他们指出,只要传感系统采用脉冲驱动方式,该方法就具有普适性。例如,其他类型的电容式触控屏(CTSP)乃至其他类别的传感器,都可以借鉴此方法来抑制EMI。此外,通过合成不同特性的脉冲或对脉冲波形进行调制,还可以实现对特定频段EMI的针对性抑制或对整个EMI频谱进行灵活控制,这为未来更精细的EMI管理技术指明了方向。

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