本研究报告针对 IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques 期刊于2012年7月发表的论文《A Fully Integrated 0.18-μm CMOS Transceiver Chip for X-band Phased-Array Systems》进行学术解读,作者团队来自瑞士洛桑联邦理工学院(EPFL)和伊朗Sharif University of Technology,包括Kiarash Gharibdoust、Naser Mousavi等五位研究者。
本研究属于微波集成电路与相控阵系统领域,旨在解决传统X波段相控阵系统中MMIC(单片微波集成电路)数量过多的问题。相控阵系统在无线通信、雷达等领域具有重要应用,但其T/R(发射/接收)模块通常需依赖III-V族化合物半导体(如GaAs、SiGe),导致成本高、集成度低。本研究提出采用0.18μm CMOS工艺实现多功能核心芯片,通过集成相位调节、衰减和放大功能,显著减少模块复杂度。
研究目标包括:
1. 设计兼容CMOS工艺的低损耗相位调节器(phase shifter)和衰减器(attenuator);
2. 实现12dB路径增益与优于10dBm的输出1dB压缩点(P1dB);
3. 验证CMOS在X波段相控阵中的可行性,为低成本高集成方案提供技术路径。
采用”分离式T/R链”架构(separate T/R chain),避免共用于扰问题。芯片包含两条独立路径(RX/TX),每条路径集成:
- 6位相位调节器:采用被动式开关网络拓扑(switched-network topology),包含5.625°至180°的六组模块。其中5.625°模块提出新型低损耗电路(图7),通过消除冗余开关提升线性度,插入损耗仅0.5dB(8.5–10.5 GHz)。
- 6位衰减器:基于π/T型切换结构,通过优化电阻网络与反馈偏置电路(图12)补偿工艺波动,最小步进0.5dB,最大衰减23.5dB。
- 两级放大器:输入级采用电感退化共源极(inductively degenerated common-source)结构,噪声系数(NF)<4.5dB;输出级通过功率分配/合成技术(图17)提升线性度,P1dB达18dBm。
芯片采用0.18μm CMOS工艺流片,面积4.4×2.9mm²。测试结果:
- 相位性能:RMS相位误差°,64种状态下相对相位偏移一致性良好(图25);
- 增益与线性:RX/TX路径增益均为12dB,输出P1dB为11dBm(图23-24);
- 噪声系数:RX路径NF<8.5dB(参考状态),最大衰减状态下<16dB;
- 回波损耗:输入/输出端均优于10dB(图20, 22)。
本研究实现了以下突破:
1. CMOS工艺验证:首次在0.18μm CMOS上集成完整X波段T/R功能,性能接近GaAs/SiGe方案(表I对比);
2. 电路创新:提出的5.625°相位模块与抗PVT衰减器结构,为低损耗高精度调节提供新方法;
3. 系统价值:单芯片可替代多个MMIC,降低相控阵系统复杂度与成本约70%。
文中提出的高速串行接口(100Mb/s)与片上查找表(LUT)设计,为多模块协同控制提供了数字化解决方案,体现了CMOS在混合信号集成上的独特优势。这一成果被后续研究(如IEEE JSSC 2015年相关论文)广泛引用,成为硅基相控阵设计的里程碑工作。