本文研究由Hongbin Wang、Jiangang Ma、Peng Li、Bingsheng Li、Haiyang Xu及Yichun Liu共同完成。他们隶属于东北师范大学教育部紫外发光材料与技术重点实验室,研究成果发表在《IEEE Electron Device Letters》,期刊卷号为45,编号为4,时间为2024年4月。
本研究集中在自供能太阳盲紫外(solar-blind ultraviolet, SBUV)光电探测器(photodetectors, PDs)的领域。Ga₂O₃因其超宽禁带(ultra-wide-bandgap)特性和极好的化学与热稳定性,在太阳盲紫外探测器和超高功率电子器件中具有巨大的应用潜力。然而,目前高质量Ga₂O₃薄膜的制备通常需要高温生长技术和低晶格失配的基底,这对大面积柔性器件的制造提出了挑战。相比之下,无定形Ga₂O₃(amorphous Ga₂O₃, a-Ga₂O₃)薄膜凭借低温制备和适应柔性基底的优良特性,成为一类颇具前景的候选材料。
尽管a-Ga₂O₃材料在光电探测领域展现了一定的优势,但受制于其较低的载流子迁移率,目前所制备器件的光响应和响应时间较差。因此,进一步优化a-Ga₂O₃光电探测器的光响应特性对提升其性能非常必要。同时,压电效应(piezoelectricity)通过应变引起的极化电荷可调节载流子在界面上的输运和分离行为,从而有望显著提升光电探测器的性能。本文创新性地结合a-Ga₂O₃与ZnO(具有压电特性的半导体材料)构建了异质结探测器,并探讨了压电效应在其中的调制作用。
研究包括以下多个主要步骤:
材料制备
实验表征方法
压电实验
测试a-Ga₂O₃/ZnO界面在压电极化电荷作用下的载流子输运行为,通过使用垂直结构的Al/ZnO/ITO器件,在向上拉伸应变下确认ZnO中压电场的方向及其对电子传输的影响。
性能测试与分析
在不同应变条件下验证光探测器的光暗电流、光响应度(responsivity, R)和探测率(detectivity, D*)等关键性能参数,并记录器件的光响应时间(rise time和decay time)。
基本性能测试:
压电调控下的性能增强:
性能优化的机制分析:
器件稳定性与重复性:
时间分辨光响应测试:
本文揭示了利用压电效应改进Ga₂O₃/ZnO异质结光电探测器性能的创新方法,通过应变调节界面的导带连续性,有效提升了载流子分离及输运效率。在无偏置和0.57%拉伸应变条件下,器件的光响应度和探测率分别提高了46.2%和35.7%,同时其响应时间显著缩短。这项研究为太阳盲紫外光电探测器的设计和制造提供了一种切实可行的方法。
该研究不仅在理论上推进了太阳盲紫外探测器领域的进展,并为柔性、低成本、高性能光电器件的应用开发打开了新思路,表现出较大的科学与实用价值。