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使用三层纳米压印和湿法蚀刻制造的22纳米硅纳米线气体传感器

期刊:microelectronic engineeringDOI:10.1016/j.mee.2009.11.173

基于三层纳米压印与湿法刻蚀的22纳米硅纳米线气体传感器研究

作者及机构
本研究由复旦大学的Chen Gao、Shao-Ren Deng、Jing Wan等与英国卢瑟福·阿普尔顿实验室(Rutherford Appleton Laboratory)的Ejaz Huq、Yifang Chen团队合作完成,发表于2010年《Microelectronic Engineering》期刊第87卷。


一、学术背景

科学领域与研究动机

本研究属于微电子器件与传感器技术交叉领域,聚焦半导体纳米线气体传感器的制备与性能优化。传统气体传感器(如多孔硅传感器和金属氧化物纳米线传感器)存在可靠性低、测量温度高、与硅基VLSI(超大规模集成电路)工艺兼容性差等问题。而本研究通过自上而下(top-down)工艺制备硅纳米线,结合三层纳米压印光刻(trilayer nanoimprint lithography)湿法刻蚀(wet etching)技术,解决了传统反应离子刻蚀(RIE)导致的表面电荷干扰问题,同时实现了22纳米线宽的传感器制备,为高灵敏度气体检测提供了新方案。

核心目标

  1. 开发一种可控制备超窄硅纳米线的工艺,线宽低至22纳米;
  2. 验证纳米线尺寸对气体传感性能的影响规律;
  3. 通过湿法刻蚀替代RIE,避免表面电荷对器件电学性能的干扰。

二、研究流程与实验方法

1. 模板制备与基板处理

  • 电子束光刻(EBL)模板:采用电子束光刻技术制备周期2微米、线宽70纳米的镍掩模模板。
  • SOI衬底:使用硼掺杂(8×10¹⁷ cm⁻³)的(100)晶向SOI(绝缘体上硅)衬底,顶层硅厚度分别为80纳米(用于75纳米线宽器件)和38纳米(用于22纳米线宽器件)。

2. 三层纳米压印与图案转移

  • 三层结构:依次沉积SU-8光刻胶/SiO₂/PMMA(聚甲基丙烯酸甲酯)作为压印层。
  • 压印参数:温度100°C、压力20 MPa,通过RIE形成图案并产生PMMA层悬垂结构。
  • 金属掩模:溅射20纳米铬(Cr)层,通过剥离工艺(lift-off)形成刻蚀掩模。

3. 湿法刻蚀与纳米线成型

  • 刻蚀液:采用8%四甲基氢氧化铵(TMAH)溶液,60°C下进行各向异性刻蚀。
  • 刻蚀时间:80纳米硅层刻蚀1分钟(75纳米线宽),38纳米硅层刻蚀8分钟(22纳米线宽)。TMAH对Si(111)面的刻蚀速率比其他晶面慢约100倍,因此形成梯形截面纳米线。

4. 电极制作与电学测试

  • 欧姆接触:通过光刻和退火工艺制备铝电极,确保与p型硅形成可靠接触。
  • 气体测试:在250 ppm NO₂环境中,施加2V直流电压,测量纳米线电流响应。

5. 仿真验证

  • 泊松方程求解:采用逐次超松弛法(SOR)模拟纳米线横截面的空穴密度分布,分析表面电荷对灵敏度的作用机制。

三、主要研究结果

1. 纳米线形貌与尺寸控制

  • SEM图像显示,湿法刻蚀成功制备了顶部宽度22纳米(高度38纳米)和75纳米(高度80纳米)的硅纳米线阵列,线边缘平滑(图2)。

2. 气体传感性能对比

  • 灵敏度定义:相对灵敏度(S)为(I₉−I₀)/I₀,其中I₀和I₉分别为N₂和NO₂环境下的电流。
  • 实验结果:22纳米纳米线的灵敏度(14.7%)是75纳米纳米线(7.0%)的2.1倍(表1)。这与两者的表面体积比(22纳米线为75纳米线的2.4倍)一致,表明尺寸缩小显著提升灵敏度。

3. 湿法刻蚀 vs. 干法刻蚀(RIE)

  • RIE工艺缺陷:传统RIE会引入表面正电荷,导致初始载流子密度(p₀)降低,虽能短期提高灵敏度(如文献中75纳米RIE器件灵敏度达61.8%),但长期稳定性差。
  • 湿法刻蚀优势:避免了表面电荷不可控问题,器件一致性更好,但灵敏度较低。仿真证实,相同表面电荷密度下,22纳米线的电导率增幅(15%)高于75纳米线(6.5%),与实验吻合(图4-5)。

四、结论与价值

科学意义

  1. 工艺创新:通过三层纳米压印与TMAH湿法刻蚀结合,实现了22纳米硅纳米线的可控制备,为纳米线传感器提供了一种高分辨率、低损伤的工艺路线。
  2. 机制阐释:仿真与实验共同验证了纳米线尺寸对灵敏度的调控规律,表明表面体积比是决定气体传感性能的关键参数。

应用前景

  • 兼容性:该工艺与硅基VLSI技术兼容,适合大规模集成化传感器生产。
  • 拓展性:通过优化纳米线几何形态(如表面粗糙度)或掺杂浓度,可进一步提升灵敏度。

五、研究亮点

  1. 超窄线宽突破:22纳米线宽为当时报道的硅纳米线气体传感器的最小尺寸之一。
  2. 湿法刻蚀取代RIE:解决了表面电荷干扰问题,提高了器件稳定性。
  3. 多尺度验证:实验与仿真结合,从宏观电学响应到微观载流子分布,完整揭示了灵敏度差异的物理机制。

致谢
本研究获上海市科委(08QH14002)、国家基础研究计划(2006CB302703)及教育部”985”微纳电子科技创新平台支持。


(总字数约1700字)

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