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柔性太阳盲Ga2O3紫外光电探测器的高响应度和光暗电流比

期刊:IEEE Photonics Journal

该文档属于类型a,即报告了一项原创性研究。以下是针对该研究的学术报告:

主要作者及研究机构
本研究由Zhe Li、Yu Xu、Jiaqi Zhang、Yaolin Cheng、Dazheng Chen、Qian Feng、Shengrui Xu、Yachao Zhang、Jincheng Zhang、Yue Hao和Chunfu Zhang共同完成,研究机构为西安电子科技大学微电子学院的宽带隙半导体技术学科国家重点实验室。研究发表于2019年12月的IEEE Photonics Journal,卷号为11,期号为6。

学术背景
本研究属于光电技术领域,特别是光电探测器(photodetector)的研究。随着信息时代的快速发展,光电技术在信息产业中扮演着越来越重要的角色。光电探测器作为光电通信系统中的核心组件,能够将光信号转换为电信号,广泛应用于军事、空间探索和国防安全等领域。其中,日盲紫外(solar-blind ultraviolet, UV)光电探测器因其低噪声和高灵敏度的独特优势,成为光电探测领域的研究热点。然而,传统的刚性基底(如蓝宝石和石英)存在易碎、加工复杂等问题,限制了其广泛应用。因此,开发基于柔性基底(flexible substrate)的日盲紫外光电探测器具有重要意义。

本研究的背景知识包括:宽禁带半导体材料(wide bandgap semiconductor)在日盲紫外探测中的应用,尤其是氧化镓(Ga₂O₃)因其高达4.8 eV的准直接带隙(quasi-direct gap)和优异的太阳盲区响应特性,成为理想的日盲紫外探测材料。此外,Ga₂O₃材料成本低、热稳定性和化学稳定性好,能够在恶劣条件下使用。

本研究的主要目标是开发一种基于柔性聚酰亚胺(polyimide, PI)基底的Ga₂O₃日盲紫外光电探测器,并通过控制生长温度优化其光电性能,包括响应度(responsivity)、光暗电流比(photo-to-dark current ratio)和外部量子效率(external quantum efficiency)。

研究流程
本研究包括以下主要步骤:
1. 材料生长:通过射频磁控溅射(radio frequency magnetron sputtering)技术在不同温度(50°C至200°C)下在PI和蓝宝石基底上生长Ga₂O₃薄膜。Ga₂O₃陶瓷靶材纯度为99.99%。基底在丙酮、酒精和去离子水中超声清洗,溅射功率为120 W,沉积压力为25 mTorr,使用纯氩气(Ar)作为溅射气氛,薄膜厚度保持在200 nm。
2. 光电探测器制备:采用金属-半导体-金属(metal-semiconductor-metal, MSM)叉指结构(interdigitated structure)制备Ga₂O₃日盲紫外光电探测器。电极指长80 μm,宽3 μm,间距3 μm。
3. 表征与测试:通过紫外-可见分光光度计(UV-vis spectrometer)测试薄膜的光学透过率,使用X射线衍射仪(X-ray diffractometer, XRD)分析薄膜的晶体结构,利用X射线光电子能谱(X-ray photoelectron spectroscopy, XPS)研究薄膜的元素组成,使用场发射扫描电子显微镜(field emission scanning electron microscope, FE-SEM)观察薄膜表面形貌,通过半导体参数分析仪(semiconductor parameter analyzer)测量电学特性,并在254 nm和365 nm紫外光照射下进行光响应测试。
4. 机械性能测试:对柔性光电探测器进行弯曲和疲劳测试,评估其机械稳定性和电学性能。

主要结果
1. 材料生长与结构表征:XRD结果表明,所有生长温度下的Ga₂O₃薄膜均为非晶态(amorphous state)。FE-SEM图像显示,不同温度下生长的薄膜表面形貌无明显差异,与非晶态结构一致。
2. 光学特性:Ga₂O₃薄膜在254 nm以下的紫外光区域表现出强吸收,其带隙约为4.8 eV,与文献报道一致。
3. 光电性能:在200°C生长温度下,光电探测器在254 nm光照下表现出最佳性能,响应度为52.6 A/W,光暗电流比超过10⁵,外部量子效率达到2.6×10⁴%。这些性能优于大多数已报道的Ga₂O₃紫外光电探测器,包括基于刚性基底的器件。
4. 机械性能:柔性光电探测器在弯曲和疲劳测试中表现出优异的机械和电学稳定性,表明其适用于可穿戴设备等应用场景。

结论
本研究成功在柔性PI基底上通过射频磁控溅射技术生长了非晶态Ga₂O₃薄膜,并制备了高性能的日盲紫外光电探测器。通过控制生长温度,光电探测器的响应度、光暗电流比和外部量子效率显著提高。在200°C生长温度下,光电探测器的性能达到最优,且表现出优异的机械稳定性。该研究为柔性日盲紫外光电探测器的开发提供了重要参考,具有广泛的应用前景。

研究亮点
1. 高性能柔性光电探测器:本研究开发的Ga₂O₃光电探测器在响应度、光暗电流比和外部量子效率方面表现优异,性能优于大多数已报道的器件。
2. 非晶态薄膜的生长:通过射频磁控溅射技术在柔性基底上成功生长了非晶态Ga₂O₃薄膜,为非晶态材料在光电探测器中的应用提供了新思路。
3. 优异的机械稳定性:柔性光电探测器在弯曲和疲劳测试中表现出良好的机械和电学稳定性,适用于可穿戴设备等柔性电子领域。

其他有价值的内容
本研究还对比了柔性PI基底和刚性蓝宝石基底上生长的Ga₂O₃光电探测器的性能,发现两者具有相似的电学特性,进一步验证了柔性光电探测器的应用潜力。此外,研究还探讨了氧空位(oxygen vacancy)对器件性能的影响,为未来优化器件性能提供了方向。

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