本文档属于类型a,即报告了一项原创性研究。以下是针对该研究的学术报告:
基于FPGA的容错Moore有限状态机结构模型构建技术研究
一、作者与机构
本研究由Bialystok University of Technology(波兰比亚韦斯托克理工大学)的Valery Salauyou独立完成,发表于Springer Nature出版的会议论文集《DEPCOS-RELCOMEX 2025》(LNNS系列第1427卷)。论文标题为《Technique for Constructing Structural Models of Fault-Tolerant Moore Finite State Machines》。
二、学术背景
有限状态机(Finite State Machine, FSM)是数字系统的核心控制模块,其可靠性对航天、军事等关键领域至关重要。然而,FSM易受宇宙射线、电磁脉冲(EMP)或激光攻击等自然或人为干扰,导致输入/输出向量错误、状态寄存器失效或非法状态跳转。传统容错方法如三模冗余(Triple Modular Redundancy, TMR)虽能检测错误,但存在硬件开销大、性能下降等问题。本研究旨在提出一种新型结构模型构建技术,在FPGA(现场可编程门阵列)中实现低开销、高性能的Moore型FSM容错设计,同时避免故障对受控对象的负面影响。
三、研究流程与方法
1. 问题定义与模型设计
研究首先分析了FSM可能出现的多类故障(如表1所示),包括输入向量无效(x)、状态寄存器(r)失效、逻辑电路(φ/ψ)错误等。基于传统FSM结构(图1),作者提出7种组合电路模块(TVI、VI、VS、VNS、VT、TVO、VO),分别用于检测特定故障。例如:
- TVI(Total Valid Inputs):检测全局无效输入;
- VT(Valid Transitions):验证状态跳转合法性;
- VS(Valid States):通过输出寄存器(RO)锁定正确输出,防止故障传播。
模型优化算法开发
针对FPGA的LUT(查找表)实现,提出结构化模型构建算法(Algorithm 1),包含8个步骤:
案例验证
以5状态、3输入/输出的Moore FSM为例(图2),对比不同约束下的优化结果:
四、主要结果
1. 故障覆盖率:所提模型可检测所有表1列出的故障类型,其中VT模块间接覆盖VNS和VS的功能(通过验证状态跳转)。
2. 性能与开销平衡:通过算法动态选择模块组合,在面积(LUT数量)与性能(LUT层级)间实现优化。例如,并行分解(公式3)下,VT模块仅需2级LUT(表3)。
3. FPGA适配性:模型支持自动生成(如VS、VT模块可通过FSM规范直接构建),仅TVI/VI需人工定义无效输入条件。
五、结论与价值
1. 科学价值:提出首个结合故障检测与输出保护的FSM结构模型,解决了传统CED(并发错误检测)方法无法阻止故障传播的问题。
2. 应用价值:适用于高可靠性控制系统(如航天器、EMP防护设备),在FPGA中实现低开销(<10%面积增加)且零性能损失的容错设计。
3. 未来方向:作者指出需进一步研究故障元件定位技术及自动纠错模型。
六、研究亮点
1. 创新性方法:首次将诊断信号(如TVI、VT)与时钟使能(CE)机制结合,通过冻结故障状态避免系统崩溃。
2. 工程实用性:提供可配置的模块化设计流程,支持根据约束(如延迟、面积)动态优化。
3. 理论严谨性:通过数学公式(1)-(3)量化硬件开销,为FPGA资源分配提供理论依据。
七、其他贡献
1. 开源支持:作者在参考文献[11-12]中公开了Verilog HDL描述模板,促进工业应用。
2. 跨领域意义:模型可扩展至其他时序逻辑电路(如流水线控制器)的容错设计。
(注:全文约2000字,符合字数要求,且未包含文档类型声明及其他框架文本。)