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一种新型高动态范围CMOS图像传感器结构设计

期刊:集成电路应用DOI:10.19339/j.issn.1674-2583.2024.06.007

乔劲轩、魏经纬(格科微电子(上海)有限公司)于2024年6月在《集成电路应用》第41卷第6期(总第369期)发表了一篇题为《一种新型高动态范围CMOS图像传感器结构设计》的研究论文。该研究针对CMOS图像传感器(CMOS Image Sensor, CIS)在高动态范围(High-Dynamic Range, HDR)成像中的技术瓶颈,提出了一种创新的像素结构和自适应控制方法,旨在提升成像性能并优化系统效率。

学术背景

CMOS图像传感器广泛应用于手机、安防监控及机器视觉领域,其动态范围(Dynamic Range, DR)是关键性能指标。传统HDR实现方法(如多帧融合)存在运动失真和LED闪烁问题,而单帧HDR技术(如双转换增益Dual Conversion Gain, DCG或分裂二极管Split Photodiode Pixel, SPP)需多次信号读取,导致数据冗余和帧率下降。本研究的目标是通过结构创新和自适应算法,减少数据读取次数,缩短行读出时间,从而提升帧率。

研究流程与方法

1. 系统架构设计

研究提出的CIS系统包含以下核心模块:
- 像素阵列:每个像素集成两个感光灵敏度不同的光电二极管(PD1高灵敏度,PD2低灵敏度)及浮动电荷存储电容(Cf)。PD2通过浮动电荷导通晶体管(Tgc)与浮置扩散区(Floating Diffusion, FD)连接,可积累极高亮度下的溢出电荷。
- 列处理单元:新增增益控制模块,通过检测信号电压动态调整转换增益(电荷-电压转换增益档位)和模拟增益(电压增益档位),实现单次信号读取。

2. 自适应读出流程

研究设计了一套分阶段的信号处理流程:
- 参考电压采集:分两阶段读取FD结点在不同转换增益(高/低)下的参考电压(R1L、R1H、R2H、R2L)。
- 亮度区间判断:通过比较像素输出电压(PXD)与预设阈值(Vref1、Vref2),动态选择PD1或PD2作为信号源,并设定增益档位。例如,若PXD < Vref1,则启用高增益模式(DCG=1);若PXD < Vref2,则触发Tgc管导通以处理极亮场景。
- 信号转换:最终仅需读取两个信号电压(S1、S2),即可覆盖暗、中、亮、极亮四档亮度区间,显著减少数据量。

3. 创新技术

  • 双光电二极管结构:PD1与PD2的灵敏度差异扩展了动态范围。
  • 浮动电荷存储技术:Cf和Tgc的引入解决了极亮场景下的电荷溢出问题。
  • 自适应增益控制:通过列级实时判断,避免冗余数据读取,将传统需4次读取的信号压缩至2次。

主要结果与贡献

  1. 性能提升:实验表明,该结构将行读出时间缩短50%,帧率显著提高,同时动态范围扩展至覆盖极端亮度场景。
  2. 资源优化:单次信号读取策略减少数据处理需求,降低芯片功耗。
  3. 技术突破:通过硬件结构(双PD、Cf)与算法(自适应增益)的协同设计,实现了HDR成像的效率与质量平衡。

结论与价值

本研究通过像素结构创新和自适应控制方法,解决了传统HDR CIS的数据冗余问题,为高速、高动态范围成像提供了可行方案。其科学价值在于:
- 方法学创新:首次将浮动电荷存储与双PD结构结合,并实现列级自适应增益控制。
- 应用潜力:适用于自动驾驶、安防监控等对实时性要求严苛的场景,具有产业化推广价值。

研究亮点

  1. 结构创新:双PD+浮动电容设计突破了极亮场景的信号处理瓶颈。
  2. 流程优化:自适应算法将多档亮度区间压缩至单次读取,显著提升效率。
  3. 跨学科融合:结合半导体器件设计与信号处理算法,展现了集成电路设计的系统化思维。

该研究为CMOS图像传感器的高性能化提供了新思路,相关技术已申请专利,并有望在下一代消费电子和工业视觉系统中落地应用。

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