北京大学团队利用扫描离子电导显微镜揭示非极化液/液界面微观结构
作者及发表信息
本研究的通讯作者为北京大学化学与分子工程学院的邵元华教授,第一作者为顾亚雄、陈晔等,研究成果发表于Science China Chemistry 2020年3月刊(Vol.63 No.3),标题为《Probing Non-polarizable Liquid/Liquid Interfaces Using Scanning Ion Conductance Microscopy》,DOI: 10.1007/s11426-019-9661-9。
学术背景
液/液界面(Liquid/Liquid Interface, ITIES)是两相不混溶电解质溶液的接触面,在电荷转移反应、分子催化、药物传递等化学与生物过程中具有重要作用。传统理论模型(如Gouy-Chapman模型、Verwey-Niessen模型)对界面结构的描述存在争议,而实验手段(如表面张力测量、X射线反射)多限于宏观尺度。扫描离子电导显微镜(Scanning Ion Conductance Microscopy, SICM)因其纳米级空间分辨率和非接触特性,为微观界面研究提供了新工具。本研究旨在通过SICM精确测量非极化水/硝基苯(W/NB)界面的厚度,并探究电解质浓度、伽伐尼电位(Galvani potential)和外加电压对界面结构的影响。
研究流程与方法
1. 实验设计与装置
- 电化学池构建:设计了8种电化学池(Cell 1–8),通过不同电解质组合(如TPB⁻、ClO₄⁻为共同离子)调控非极化界面的伽伐尼电位。例如,Cell 1采用Ag|AgTPB|TPASTPB(NB)|NaCl+NaTPB(水相)体系。
- 纳米移液管制备:使用激光拉制仪(P-2000)制备石英纳米移液管(内径约10 nm),内充电解质溶液,尖端作为SICM探针。
界面厚度测量
变量调控实验
对比实验
主要结果
1. 界面厚度与电解质浓度的关系:低浓度(0.001 mM)下界面厚度达11.10±4.76 nm,而高浓度(1 mM)时降至0.30±0.09 nm(表1),符合扩散层压缩理论。
2. 外加电压的极化效应:-0.6 V时非极化界面厚度为3.70±1.87 nm,显著高于极化界面(0.70±0.21 nm),表明离子转移伴随的溶剂分子混合导致界面粗糙化(表2)。
3. 扩散层的直接观测:水相在上模式中,非极化界面在接触前2–3 nm处出现电流增强(图3d),证实了扩散层内阳离子富集现象;当水相离子强度从11 mM增至44 mM时,该区域缩至1–2 nm(图4),与理论预测一致。
结论与意义
本研究首次通过SICM实现了非极化液/液界面厚度的纳米级测量,揭示了电解质浓度、电位与界面结构的定量关系。实验证实非极化界面比极化界面积累更多过剩离子,为Girault-Schiffrin模型(GS模型)提供了直接证据。此外,开发的选择性硅烷化技术拓展了SICM在液/液界面研究中的应用场景。成果对理解界面电荷转移机制、优化电化学传感器和药物载体设计具有重要价值。
研究亮点
1. 方法创新:结合SICM高分辨率与双模式(有机相/水相在上)设计,突破了传统电化学技术的空间限制。
2. 理论验证:通过实验数据证实了非极化界面扩散层的离子分布特性,解决了GVN模型与GS模型的争议。
3. 技术拓展:纳米移液管硅烷化工艺为软物质界面研究提供了新思路。
其他价值
本研究建立的实验框架可推广至其他软界面体系(如生物膜、光伏器件空间电荷区),为微观电化学研究提供了普适性工具。