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使用范德华金属阴极实现模拟开关和高开/关比的忆阻器

期刊:nature electronicsDOI:10.1038/s41928-024-01269-y

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作者与期刊信息

本研究的主要作者包括Yesheng Li、Yao Xiong、Xiaolin Zhang、Lei Yin、Yiling Yu、Hao Wang、Lei Liao和Jun He。他们分别来自武汉大学物理科学与技术学院、武汉大学苏州研究院、武汉理工大学理学院、湖南大学半导体学院、武汉量子技术研究院、河南省科学院半导体研究所等多个研究机构。该研究于2025年1月发表在《Nature Electronics》期刊上,文章标题为“Memristors with analogue switching and high on/off ratios using a van der Waals metallic cathode”。

研究背景

本研究属于纳米电子学和神经形态计算领域。随着人工智能和数据密集型计算应用的快速发展,传统的冯·诺依曼架构面临着效率瓶颈。神经形态计算作为一种新兴的计算范式,能够高效处理复杂的数据任务。忆阻器(Memristor)是实现神经形态计算的关键硬件之一,尤其是具有多导电状态的模拟忆阻器,能够显著提高计算效率。然而,现有的模拟忆阻器通常存在开/关比(on/off ratio)较低的问题,限制了其在高精度权重映射中的应用。因此,本研究旨在开发一种具有高开/关比和模拟开关特性的新型忆阻器,以满足神经形态计算的需求。

研究流程

1. 忆阻器设计与制备

研究团队设计了一种基于二维范德华(van der Waals, vdW)金属材料的忆阻器。其结构包括银(Ag)作为顶部阳极、磷硫化铟(InP3S9, IPS)作为开关介质,以及石墨烯(Graphene, Gr)或二碲化铂(PtTe2)作为底部阴极。研究首先通过机械剥离法制备了IPS纳米片,并将其转移到预先沉积的Cr/Au基底上。随后,通过电子束热蒸发系统沉积Ag/Au作为顶部电极。对于使用Gr或PtTe2作为阴极的器件,研究团队采用相同的方法制备了多层Gr或PtTe2,并进行了器件封装。

2. 电学性能测试

研究使用半导体参数分析仪(B1500)和Keithley 4200-SCS分析仪对忆阻器的电流-电压(I-V)特性进行了测试。测试中,Ag作为顶部电极施加偏置电压,而Au、Gr或PtTe2作为底部电极接地。研究团队通过直流扫描和动态脉冲测试,评估了器件的开关特性、开/关比、功耗以及多级导电状态的实现能力。

3. 材料表征

为了揭示忆阻器的工作原理,研究团队使用透射电子显微镜(TEM)和能量色散X射线光谱(EDS)对器件进行了表征。通过聚焦离子束(FIB)系统制备了横截面样品,并在加速电压为200 kV的条件下进行了高分辨率TEM成像和EDS元素映射分析。

4. 理论计算

研究采用密度泛函理论(DFT)计算了Ag在Gr、PtTe2和IPS层中的扩散能垒。计算使用Vienna Ab Initio Simulation Package(VASP)软件,采用广义梯度近似(GGA)和投影缀加波(PAW)方法,平面波截断能量为520 eV,k点网格为7×7×1。

5. 神经网络模拟

基于忆阻器的模拟开关特性,研究团队使用DNN+NeuroSim平台对卷积神经网络(CNN)进行了芯片级模拟。模拟中使用了CIFAR-10数据集,并评估了图像识别的准确率。

主要结果

1. 高性能忆阻器

研究开发的Ag/IPS/Gr和Ag/IPS/PtTe2忆阻器表现出优异的模拟开关特性,开/关比高达10^8,并实现了超过8位的导电状态(278个状态)。此外,器件的功耗低至56阿焦耳(aJ)每脉冲,远低于传统忆阻器。

2. 材料表征与机理

TEM和EDS分析证实了Ag在vdW阴极中的插层/脱层过程。研究还发现,Gr和PtTe2的高扩散能垒限制了Ag离子的迁移,从而实现了可控的模拟开关行为。

3. 理论计算支持

DFT计算表明,Ag在Gr和PtTe2中的扩散能垒显著高于IPS,这解释了vdW阴极在调制离子迁移中的关键作用。

4. 神经网络模拟

基于Ag/IPS/Gr和Ag/IPS/PtTe2忆阻器的CNN在CIFAR-10数据集上实现了高达91%的图像识别准确率,接近理想器件的性能(92%)。

结论与意义

本研究通过引入vdW金属阴极,成功开发了具有高开/关比和模拟开关特性的低功耗忆阻器。这一策略不仅解决了传统忆阻器在神经形态计算中的性能瓶颈,还为未来高性能模拟忆阻器的设计提供了新的思路。研究的科学价值在于揭示了vdW材料在调制离子迁移中的独特作用,而其应用价值则体现在为人工智能和神经形态计算提供了高效的硬件解决方案。

研究亮点

  1. 高开/关比与模拟开关:本研究开发的忆阻器开/关比高达10^8,并实现了超过8位的导电状态,突破了传统模拟忆阻器的性能限制。
  2. 低功耗:器件的功耗低至56 aJ每脉冲,为低功耗神经形态计算提供了可能。
  3. vdW阴极策略:研究首次将vdW金属材料应用于忆阻器阴极,通过插层/脱层过程实现了可控的离子迁移和模拟开关行为。
  4. 芯片级神经网络模拟:基于忆阻器的CNN在图像识别任务中表现出色,验证了其在实际应用中的潜力。

其他有价值的内容

研究还探讨了不同阴极材料(如Gr和PtTe2)对忆阻器性能的影响,发现PtTe2阴极器件具有更低的操作电压和更高的开/关比。此外,研究团队通过理论计算和实验验证,深入分析了vdW阴极在调制离子迁移中的机制,为未来忆阻器的优化设计提供了理论依据。


这篇报告详细介绍了研究的背景、流程、结果和意义,旨在为其他研究人员提供全面的参考。

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