二维材料集成光子学:走向工业制造和商业化

学术背景 随着信息时代的到来,集成电路(Integrated Circuits, ICs)成为了推动技术进步的核心力量。然而,传统的集成光子学平台(如硅、氮化硅等)在材料特性上存在诸多限制,例如硅的间接带隙限制了其在激光应用中的使用,而硅在近红外波段的强双光子吸收也限制了其在非线性光学应用中的表现。为了克服这些限制,研究人员开始探索将具有优异光学特性的二维材料(2D Materials)集成到光子芯片上。二维材料,如石墨烯(Graphene)、过渡金属二硫化物(Transition Metal Dichalcogenides, TMDCs)、黑磷(Black Phosphorus, BP)等,展现出超高的载流子迁移率、宽带光学响应、层依赖的可调带隙等特性,为下一代光子集成电路(Photoni...

超快纳米光谱与成像技术及其在尖端显微镜中的应用综述

超快纳米光谱与成像技术的最新进展:基于探针显微镜的应用 研究背景 近年来,随着光学显微技术的飞速发展,科学家们对纳米尺度物理现象的理解取得了显著进步。然而,传统的远场光学显微技术受限于光学衍射极限,难以实现亚波长级别的空间分辨率。与此同时,量子材料、二维材料(2D Materials)、有机分子材料等新型材料的研究需求日益增加,这些材料中的光-物质相互作用往往发生在极短的时间尺度(飞秒至纳秒)和极小的空间尺度(纳米至埃级别)。因此,开发能够同时提供高空间分辨率和高时间分辨率的显微技术成为科学研究的关键。 为了突破传统光学显微技术的限制,扫描探针显微镜(Scanning Probe Microscopy, SPM)逐渐崭露头角。特别是结合超快光学技术的SPM方法,如超快散射型近场光学显微镜(U...

高性能p型场效应晶体管:二维材料的替代掺杂与厚度控制

高性能p型场效应晶体管:二维材料的替代掺杂与厚度控制 学术背景 随着半导体技术的不断发展,硅基场效应晶体管(FET)在性能提升方面逐渐接近物理极限。为了突破这一瓶颈,研究人员开始探索二维(2D)材料作为硅的潜在替代品。二维过渡金属二硫属化物(TMDs),如二硫化钼(MoS₂)、二硒化钼(MoSe₂)和二硒化钨(WSe₂),因其原子级平滑的表面和优异的电学性能,成为研究的热点。然而,尽管n型二维FET取得了显著进展,p型二维FET的发展却相对滞后。这主要是由于金属-二维材料接触界面处的费米能级钉扎效应,导致p型载流子注入效率低下,接触电阻(Rc)较高。 本文的研究旨在通过替代掺杂和厚度控制,解决p型二维FET的性能瓶颈问题。具体来说,作者通过在MoSe₂和WSe₂中引入钒(V)、铌(Nb)和钽...